[发明专利]微波测试连接器及测试方法在审

专利信息
申请号: 202010733329.4 申请日: 2020-07-27
公开(公告)号: CN111929474A 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 姜兆国;孙建才;张越成;要志宏;栾鹏;董强;杜伟;杨强;郭建;武义桥;陈玉林;刘通;李彦涛;张晓康;王佳琦 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 秦敏华
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 微波 测试 连接器 方法
【权利要求书】:

1.微波测试连接器,其特征在于,包括:

SMA接头,所述SMA接头设有第一中心孔,所述SMA接头的一端设有外螺纹,另一端设有弹性接地探针、弹性信号探针和用于与PCB基板锁紧锁紧卡扣,当所述锁紧卡扣锁紧时,所述弹性接地探针和所述弹性信号探针受所述PCB基板挤压接触;

绝缘体,所述绝缘体设置在所述第一中心孔内,所述绝缘体设有与所述第一中心孔同轴的第二中心孔;和

针芯,所述针芯内嵌于所述第二中心孔内,所述针芯的一端设有用于连接对插的SMA接口的第一针槽,另一端设有用于安装所述弹性信号探针的第二针槽,所述弹性信号探针的一端安装在所述第二针槽内。

2.如权利要求1所述的微波测试连接器,其特征在于,所述第二针槽内设有弹簧,所述弹性信号探针插装在所述弹簧内,所述弹性信号探针上设有用于挤压所述弹簧的台阶。

3.如权利要求1所述的微波测试连接器,其特征在于,所述第一中心孔为台阶孔,所述绝缘体的外表面设有与所述台阶孔配合的台阶。

4.如权利要求3所述的微波测试连接器,其特征在于,所述绝缘体的大端位于所述SMA接头的外螺纹一端。

5.如权利要求1所述的微波测试连接器,其特征在于,所述SMA接头的端部还设有用于安装所述弹性接地探针的第三针槽,所述第三针槽内设有弹簧,所述弹性接地探针插装在所述弹簧内,所述弹性接地探针上设有用于挤压所述弹簧的台阶。

6.如权利要求1所述的微波测试连接器,其特征在于,所述锁紧卡扣包括与所述SMA接头相连的锁紧柱和设置于所述锁紧柱端部的导入柱,所述导入柱的直径大于所述锁紧柱的直径。

7.如权利要求6所述的微波测试连接器,其特征在于,锁紧卡扣的数量为两个,以所述第二中心孔为中心对称设置。

8.如权利要求1所述的微波测试连接器,其特征在于,所述弹性信号探针设置在所述SMA接头另一端的中心,所述弹性接地探针围绕所述弹性信号探针设置,所述锁紧卡扣设置在所述弹性接地探针的外侧。

9.如权利要求1所述的微波测试连接器,其特征在于,所述SMA接头安装锁紧卡扣的一端设有法兰盘,所述锁紧卡扣设置在所述法兰盘的端面。

10.基于如权利要求1-9任一项所述的微波测试连接器的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括:

在PCB基板上设置连通的滑道和卡孔,所述滑动的内径大于所述卡孔的内径;

所述SMA接头与测试设备的SMA接口螺纹连接;

将所述锁紧卡扣先从滑道穿过,然后滑动至所述卡孔内,与所述PCB基板卡紧;

所述弹性接地探针和所述弹性信号探针受所述PCB基板挤压接触,与所述PCB基板紧密接触;

启动测试设备,对PCB基板进行测试。

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