[发明专利]微波测试连接器及测试方法

权利要求书

1.微波测试连接器，其特征在于，包括：

SMA接头，所述SMA接头设有第一中心孔，所述SMA接头的一端设有外螺纹，另一端设有弹性接地探针、弹性信号探针和用于与PCB基板锁紧锁紧卡扣，当所述锁紧卡扣锁紧时，所述弹性接地探针和所述弹性信号探针受所述PCB基板挤压接触；

绝缘体，所述绝缘体设置在所述第一中心孔内，所述绝缘体设有与所述第一中心孔同轴的第二中心孔；和

针芯，所述针芯内嵌于所述第二中心孔内，所述针芯的一端设有用于连接对插的SMA接口的第一针槽，另一端设有用于安装所述弹性信号探针的第二针槽，所述弹性信号探针的一端安装在所述第二针槽内。

2.如权利要求1所述的微波测试连接器，其特征在于，所述第二针槽内设有弹簧，所述弹性信号探针插装在所述弹簧内，所述弹性信号探针上设有用于挤压所述弹簧的台阶。

3.如权利要求1所述的微波测试连接器，其特征在于，所述第一中心孔为台阶孔，所述绝缘体的外表面设有与所述台阶孔配合的台阶。

4.如权利要求3所述的微波测试连接器，其特征在于，所述绝缘体的大端位于所述SMA接头的外螺纹一端。

5.如权利要求1所述的微波测试连接器，其特征在于，所述SMA接头的端部还设有用于安装所述弹性接地探针的第三针槽，所述第三针槽内设有弹簧，所述弹性接地探针插装在所述弹簧内，所述弹性接地探针上设有用于挤压所述弹簧的台阶。

6.如权利要求1所述的微波测试连接器，其特征在于，所述锁紧卡扣包括与所述SMA接头相连的锁紧柱和设置于所述锁紧柱端部的导入柱，所述导入柱的直径大于所述锁紧柱的直径。

7.如权利要求6所述的微波测试连接器，其特征在于，锁紧卡扣的数量为两个，以所述第二中心孔为中心对称设置。

8.如权利要求1所述的微波测试连接器，其特征在于，所述弹性信号探针设置在所述SMA接头另一端的中心，所述弹性接地探针围绕所述弹性信号探针设置，所述锁紧卡扣设置在所述弹性接地探针的外侧。

9.如权利要求1所述的微波测试连接器，其特征在于，所述SMA接头安装锁紧卡扣的一端设有法兰盘，所述锁紧卡扣设置在所述法兰盘的端面。

10.基于如权利要求1-9任一项所述的微波测试连接器的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

在PCB基板上设置连通的滑道和卡孔，所述滑动的内径大于所述卡孔的内径；

所述SMA接头与测试设备的SMA接口螺纹连接；

将所述锁紧卡扣先从滑道穿过，然后滑动至所述卡孔内，与所述PCB基板卡紧；

所述弹性接地探针和所述弹性信号探针受所述PCB基板挤压接触，与所述PCB基板紧密接触；

启动测试设备，对PCB基板进行测试。