[发明专利]免疫荧光检测系统、抗原抗体浓度检测方法及装置有效
申请号: | 202010734548.4 | 申请日: | 2020-07-27 |
公开(公告)号: | CN111855630B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 廖常宇 | 申请(专利权)人: | 四川丹诺迪科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N33/53;G01N33/58 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 杨奇松 |
地址: | 610095 四川省成都市高新区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 免疫 荧光 检测 系统 抗原 抗体 浓度 方法 装置 | ||
1.一种免疫荧光检测系统,其特征在于,所述检测系统包括反应设备、光照设备、数据处理设备及多个不同的光子信号采集设备;
所述反应设备用于供待测样本中的待测物与由检测物和示踪物组成的复合物质进行抗原抗体特异性反应,其中所述待测物为抗原而所述检测物为抗体,或者所述待测物为抗体而所述检测物为抗原;
所述数据处理设备与所述光照设备电性连接,用于控制所述光照设备通过光照的方式激发所述反应设备内的示踪物产生荧光源;
所述数据处理设备与每个所述光子信号采集设备电性连接,用于控制所有光子信号采集设备对产生的荧光源进行光子信号强度采集;
所述数据处理设备,还用于根据所述待测物与所述检测物之间的特异性反应实现方式及每个光子信号采集设备采集到的光强信息,在所有光子信号采集设备各自的待测物浓度-光强校准曲线中确定与所述待测物匹配的最佳校准曲线;
所述数据处理设备,还用于根据所述最佳校准曲线及与所述最佳校准曲线对应的光强信息,计算所述待测物在所述待测样本中的浓度。
2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包括供电设备;
所述供电设备与所述光照设备、所述数据处理设备及每个所述光子信号采集设备电性连接,用于向所述光照设备、所述数据处理设备及每个所述光子信号采集设备提供电能。
3.一种抗原抗体浓度检测方法,其特征在于,应用于权利要求1或2所述的免疫荧光检测系统中的数据处理设备,所述方法包括:
获取多个不同的光子信号采集设备各自针对同一荧光源所采集到的光强信息;
根据该荧光源所对应的待测物与检测物之间的特异性反应实现方式及获取到的所有光强信息,在所有光子信号采集设备各自的待测物浓度-光强校准曲线中确定与所述待测物匹配的最佳校准曲线;
根据所述最佳校准曲线及获取到的与所述最佳校准曲线对应的光强信息,计算所述待测物在对应待测样本中的浓度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述待测物浓度-光强校准曲线包括对应光子信号采集设备在特异性反应实现方式为夹心法时的第一校准曲线,所述根据该荧光源所对应的待测物与检测物之间的特异性反应实现方式及获取到的所有光强信息,在所有光子信号采集设备各自的待测物浓度-光强校准曲线中确定与所述待测物匹配的最佳校准曲线,包括:
当所述特异性反应实现方式为夹心法时,针对每个光子信号采集设备,确定该光子信号采集设备所采集的光强信息在匹配的第一校准曲线中对应的检测点的第一曲线斜率;
选取数值最大的第一曲线斜率所对应的第一校准曲线,作为与所述待测物匹配的最佳校准曲线。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述待测物浓度-光强校准曲线包括对应光子信号采集设备在特异性反应实现方式为竞争法时的第二校准曲线,所述根据该荧光源所对应的待测物与检测物之间的特异性反应实现方式及获取到的所有光强信息,在所有光子信号采集设备各自的待测物浓度-光强校准曲线中确定与所述待测物匹配的最佳校准曲线,包括:
当所述特异性反应实现方式为竞争法时,针对每个光子信号采集设备,确定该光子信号采集设备所采集的光强信息在匹配的第二校准曲线中对应的检测点的第二曲线斜率;
计算每个第二曲线斜率与预设参照斜率之间的斜率差值;
选取对应斜率差值的绝对值最小的第二曲线斜率所对应的第二校准曲线,作为与所述待测物匹配的最佳校准曲线。
6.根据权利要求3-5中任意一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述最佳校准曲线及获取到的与所述最佳校准曲线对应的光强信息,计算所述待测物在该荧光源所对应的待测样本中的浓度,包括:
在所述最佳校准曲线中查找与由该最佳校准曲线所对应的光子信号采集设备采集的光强信息相匹配的目标浓度数值,并将该目标浓度数值作为所述待测物在该荧光源所对应的待测样本中的浓度。
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