[发明专利]应用于5G元件的谐振腔及测试方法

说明书

一种应用于5G元件的谐振腔及测试方法，属于谐振腔测试技术领域。方案如下：程序初始化，输入测试参数；输入谐振腔的校准参数；依次寻找第一至第八谐振点的频率，降低扫描时间，减小扫描范围，重新扫描，分别读取各谐振点的频率和Q值；计算分别计算每个谐振点的ESR值、Corrected ESR值、Cp值和Q值。有益效果：本发明所述的应用于5G元件的谐振腔测试方法通过使用矢量网络分析仪，可计算高Q电容3.5GHz以下各个谐振点的ESR值等参数，测试精度更高，测试效率更快。

技术领域

本发明属于谐振腔测试技术领域，尤其涉及一种应用于5G频段元件的谐振腔及测试方法。

背景技术

第五代移动通信技术是最新一代蜂窝移动通信技术，也是继4GLTE-A、WiMax、3GUMTS、LTE和2GGSM系统之后的延伸。5G的性能目标是高数据速率、减少延迟、节省能源、降低成本、提高系统容量和大规模设备连接。

5G频段大致分为两段：1、低频段的Sub6G FR1：450MHz-6000MHz；2、高频段的毫米波FR2：24250MHz-52600MHz。中国移动：2515MHz-2675MHz、4800MHz-4900MHz，两段共260M，中国电信：3400MHz-3500MHz，共100M，中国联通：3500MHz-3600MHz，共100M。

市场上可购买的用于测试ESR等效串联电阻的仪器通常为阻抗分析仪，这种设备对于测量Q值不高的一般电容产品没有问题，而当测试高Q电容时，由于本身设备精度的问题，很难准确测出高Q值或者容抗较大的产品的ESR很多时候会测出负值，或者测试结果混乱。谐振腔本身在高频拥有非常高的Q值，能够在高频下准确测量高Q电容的ESR值，Q值，电容值。但现有的Boonton34A谐振腔由于设计尺寸和结构的原因，测试范围从100MHz到2GHz，不能满足5G应用频段的元器件测试；34A谐振腔厂家提供的测试方式是通过毫伏表，射频源等方式来计算单一频率点下电容的ESR值，Q值，容值，该方式设备落后，精度差，测试耗时很长，已经远远不能满足工厂测试需要；现有技术中的谐振腔采用的是金属壳体进行密封，这样的设计容易造成电磁波的泄露，测试过程产生误差，影响测试的稳定性和准确性。

发明内容

为了解决上述现有技术中存在的问题，本发明提供一种应用于5G频段的谐振腔测试方法，该方法通过使用矢量网络分析仪，可计算高Q电容3.5GHz频段以下各个谐振点的ESR值等参数，测试频段更高，适用范围更广，防止电磁波泄露，有效减少了测试误差，提高了测试的稳定性。

技术方案如下：

一种应用于5G元件的谐振腔，其特征在于，包括：夹具柱塞、中心导体、衰减器、精密电阻、连接矢网一端口、连接矢网二端口、谐振腔主体，所述夹具柱塞可活动地安装在所述谐振腔主体一端，所述中心导体内置于所述谐振腔主体，所述夹具柱塞与中心导体相对设置；所述衰减器安装在所述谐振腔主体的另一端，所述连接矢网一端口和连接矢网二端口与所述谐振腔主体连接，所述精密电阻与所述连接矢网一端口连接。

进一步的，还包括密封圈，所述衰减器与所述谐振腔主体的连接处设置所述密封圈。

进一步的，所述中心导体包括内导体和外导体，所收内导体和外导体均为圆柱结构，所述内导体直径小于所述外导体直径。

进一步的，所述内导体与外导体为一体成型。

本发明还包括一种应用于5G频段谐振腔测试方法，方案如下：

依据3.5GHz频段要求设计谐振腔

S1、使用矢量网络分析仪和Labview编写的控制程序控制测试

S2、寻找第一至第八谐振点的频率，缩短扫描时间，减小扫描范围，重新扫描，分别读取各谐振点的频率和Q值；