[发明专利]屏幕残影的测试方法在审
| 申请号： | 202010738748.7 | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113176678A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 骆志锋;卢建灿;胡燮;夏明星 | 申请（专利权）人： | 深圳同兴达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 彭涛;刘曰莹 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 屏幕 测试 方法 | ||
1.一种屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述屏幕残影的测试方法包括如下步骤：
步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；
步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LVAP；
步骤S3：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为N；
步骤S4：将屏幕上的像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128；
步骤S5：在暗室中对屏幕进行mura检测；
步骤S6：第二次测试并记录屏幕整体亮度值LVBP；
步骤S7：计算亮度差值比ABS(LVAP-LVBP)/LVAP；
步骤S8：将亮度差值比与2％进行比较，当亮度差值比小于等于2％，则该屏幕无残影；当亮度差值比大于2％，则该屏幕存在残影。
2.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述步骤S1还包括如下步骤：
步骤S11：保持像素点在128灰度值的时间为5分钟。
3.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述步骤S3还包括如下步骤：
步骤S31：保持像素点在N灰度值的时间为60分钟。
4.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述步骤S4还包括如下步骤：
步骤S41：在像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128后，保持3分钟。
5.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述N的取值为0。
6.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述N的取值为255。
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