[发明专利]屏幕残影的测试方法

说明书

本发明涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法,包括如下步骤：步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LV_AP；步骤S3：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为N；步骤S4：将屏幕上的像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128；步骤S5：在暗室中对屏幕进行mura检测；步骤S6：第二次测试并记录屏幕整体亮度值LV_BP；步骤S7：计算亮度差值比ABS(LV_AP‑LV_BP)/LV_AP；步骤S8：将亮度差值比与2％进行比较，当亮度差值比小于等于2％，则该屏幕无残影；当亮度差值比大于2％，则该屏幕存在残影。

【技术领域】

本发明涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法。

【背景技术】

当显示屏在显示一个画面上停留较长时间，显示屏内液晶中的带电粒子会吸附在上下玻璃两端形成内建电场，画面切换之后，这些带电粒子在没有立刻释放出，使得液晶分子没有立刻转到相应的角度会产生残影现象，另外由于像素电极在设计阶段由于设计不良使得液晶分子在画面切换时也会因排列错乱而产生残影现象。

残影现象的产生会影响用户对屏幕的观感，当用户在观看屏幕上的一个画面后，该画面的影像未及时消失，导致与后一画面相重叠，较大地降低了用户的体验感。现有的测试方法依赖测试员主观判断，且屏幕区块划分存在局限性。

因此，现有技术存在不足，需要改进。

【发明内容】

为克服上述的技术问题，本发明提供了一种屏幕残影的测试方法。

本发明解决技术问题的方案是提供一种屏幕残影的测试方法，包括如下步骤：

步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；

步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LV_AP；

步骤S3：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为N；

步骤S4：将屏幕上的像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128；

步骤S5：在暗室中对屏幕进行mura检测；

步骤S6：第二次测试并记录屏幕整体亮度值LV_BP；

步骤S7：计算亮度差值比ABS(LV_AP-LV_BP)/LV_AP；

步骤S8：将亮度差值比与2％进行比较，当亮度差值比小于等于2％，则该屏幕无残影；当亮度差值比大于2％，则该屏幕存在残影。

优选地，所述步骤S1还包括如下步骤：

步骤S11：保持像素点在128灰度值的时间为5分钟。

优选地，所述步骤S3还包括如下步骤：

步骤S31：保持像素点在N灰度值的时间为60分钟。

优选地，所述步骤S4还包括如下步骤：

步骤S41：在像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128后，保持3分钟。

优选地，所述N的取值为0。

优选地，所述N的取值为255。

相对于现有技术，本发明的屏幕残影的测试方法具有如下优点：

相对于现有技术，本发明的屏幕残影的测试方法具有如下优点：