[发明专利]显示面板的检测方法、系统及显示面板

权利要求书

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；

获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；

判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：

分别以每个所述缺陷像素为中心，划分多个具有预设区域面积的判断区域；

获取每个判断区域内的缺陷像素的数量，记为第二数量，判断是否存在所述第二数量大于或等于第二预设阈值的所述判断区域，若存在，则将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域。

3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域后，还包括：

建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；

根据所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域中所述缺陷像素的坐标、所述预设区域面积，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。

4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：

建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；

判断是否存在连续相邻的N个缺陷像素，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，则判定所述显示面板存在亮度不均区域，其中，所述N为大于或等于第三预设阈值的整数，其中，相邻的两个缺陷像素之间的距离小于预设距离，则判定两个缺陷像素连续。

5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，还包括：

根据所述N个缺陷像素的N个坐标，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。

6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述电性特征物理量为电荷量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：

获取每个像素在预设时长内的M个电流量，其中，M为大于1的整数，所述预设时长内具有M个时间点，每个时间点对应一个电流量；

根据所述M个电流量和所述预设时长计算所述电荷量。

7.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述电性特征物理量为电流量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：

获取每个像素在M个时间点的M个电流量，其中，M为大于1的整数，每个时间点对应一个电流量；

将所述M个电流量的平均值作为所述像素的电流量。

8.根据权利要求1至7任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述预设阈值范围为大于或等于n1且小于或等于n2，其中，所述n1为所述像素正常显示时的最小电性特征物理量，所述n2为所述像素正常显示时的最大电性特征物理量；所述获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，包括：

获取所述多个像素中电性特征物理量小于所述n1的缺陷像素的数量并记为第一子数量、所述多个像素中电性特征物理量大于所述n2的缺陷像素的数量并记为第二子数量；

所述判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，包括：

判断所述第一子数量是否大于或等于第一预设阈值，或判断所述第二子数量是否大于或等于第一预设阈值。