[发明专利]显示面板的检测方法、系统及显示面板

说明书

本发明实施例涉及图像显示技术领域，公开了一种显示面板的检测方法、系统及显示面板，所述显示面板的检测方法包括：获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。本发明提供的显示面板的检测方法、系统及显示面板能够在准确判断显示面板亮度是否均匀的同时，减少人力成本。

技术领域

本发明实施例涉及图像显示技术领域，特别涉及一种显示面板的检测方法、系统及显示面板。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode)称为有机电致发光二极管。OLED显示技术具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、效应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和3D显示等诸多优点，使它在目前在众多显示设备上得到应用，例如应用于电视机和移动设备上。目前OLED显示器件在亮度方面还存在显示非均匀性的问题，亮度显示的非均匀性主要是由于背板中薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)的电学性能不均匀和在实现图像驱动时产生的电源电压降(IR Drop)引起的。

现有技术中判断OLED显示器件显示亮度是否均匀的方法有待提高，因此，有必要提供一种新的显示面板的检测方法来解决上述问题。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种显示面板的检测方法、系统及显示面板，其能够在准确判断显示面板亮度是否均匀的同时，减少人力成本。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种显示面板的检测方法，包括：

获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。

另外，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：分别以每个所述缺陷像素为中心，划分多个具有预设区域面积的判断区域；获取每个判断区域内的缺陷像素的数量，记为第二数量，判断是否存在所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的判断区域，若存在，则将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域。

另外，在将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域后，还包括：建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；根据所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域中所述缺陷像素的坐标、所述预设区域面积，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。

另外，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；判断是否存在连续相邻的N个缺陷像素，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，则判定所述显示面板存在亮度不均区域，其中，所述N为大于或等于第三预设阈值的整数，其中，相邻的两个缺陷像素之间的距离小于预设距离，则判定两个缺陷像素连续。

另外，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，还包括：根据所述N个缺陷像素的N个坐标，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。

另外，所述电性特征物理量为电荷量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：获取每个像素在预设时长内的M个电流量，其中，M为大于1的整数，所述预设时长内具有M个时间点，每个时间点对应一个电流量；根据所述M个电流量和所述预设时长计算所述电荷量。