[发明专利]一种膜层厚度检测方法

权利要求书

1.一种膜层厚度检测方法，其特征在于：用塑料膜将需要研磨、抛光的试样横断面缠绕包裹，将包裹的试样装入夹持装置，调整试样位置至试样待抛光表面与夹持装置底面在同一平面，固定并紧固夹持装置后，再进行研磨、抛光至试样横断面为镜面，显微镜下观察、测量膜层厚度。

2.根据权利要求1所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：当横断面的膜层与基体无法辨识，用浸蚀剂对横断面浸蚀。

3.根据权利要求2所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：浸蚀后在两种金属的截面上产生细而清晰的界线时，再于显微镜下观察、测量膜层厚度。

4.根据权利要求1所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：所述浸蚀剂为硝酸酒精溶液。

5.根据权利要求1所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：所述试样为随零件同槽处理的长条状。

6.根据权利要求1所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：所述塑料膜为电工绝缘胶带。

7.根据权利要求1所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：所述夹持装置材料为金属。

8.根据权利要求1所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：所述研磨、抛光过程按照金相试样的制样程序进行，具体细节：

(1)试样的研磨，手工细磨时，不管砂纸粗细，试样磨过之后，砂纸上留下的整个痕迹颜色深浅要一致，宽度和试样磨面大小相同，不要有弧痕的痕迹出现，保证整个磨面的平整，减少试样倒棱现象；

(2)试样的抛光时间为3-5min；

(3)侵蚀时间的选择，试样侵蚀的时间长短和材料、处理状态、侵蚀剂的新旧程度有关。

9.根据权利要求1所述的一种膜层厚度检测方法，其特征在于：试样横断面缠绕包裹将要粘贴的物件固定好，一边粘一边转动胶带轴，小距离的慢慢打开胶带，确保胶带打开处平直不可倾斜，直到转动粘贴到所需要长度位置后剪断胶带。