[发明专利]一种旋转式密封性测试装置、方法和加工方法在审

专利信息
申请号: 202010747129.4 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN114061849A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 姜德志;李波 申请(专利权)人: 广州阿普顿自动化系统有限公司
主分类号: G01M3/26 分类号: G01M3/26
代理公司: 广州智斧知识产权代理事务所(普通合伙) 44649 代理人: 罗晶
地址: 510000 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 旋转 密封性 测试 装置 方法 加工
【权利要求书】:

1.一种旋转式密封性测试装置,其特征在于,包括至少一个气密性测试结构,所述气密性测试结构包括主壳体、旋转体、测试夹具;

所述主壳体内部设置有容纳腔室,所述主壳体上设置有分别与所述容纳腔室相导通的进/排气通道、测试通道;

所述旋转体设置于所述容纳腔室内、且旋转体与主壳体之间可相对旋转;所述旋转体内设置有一个气路通道,所述气路通道的两端具有分别与容纳腔室连通的第一连接口和第二连接口;

所述测试夹具包括测试夹具本体,所述测试夹具本体上设置有测试腔,所述测试腔与所述测试通道相导通;

还包括密封结构;

在旋转体相对主壳体沿逆时针或顺时针旋转过程中,气密性测试结构同时满足以下条件:

条件一:气路通道的第一连接口与进/排气通道对接连通、且它们之间的连接处通过所述密封结构密封,气路通道的第二连接口与测试通道对接连通、且它们之间的连接处通过所述密封结构密封,使得进/排气通道、气路通道、测试通道与测试腔依次导通形成密封的充/吸气通道;

条件二:气路通道的第一连接口与进/排气通道错位断开、气路通道的第二连接口与测试通道错位断开,且测试通道均被封闭,使得测试通道与测试腔导通形成密封的小漏测试通道。

2.根据权利要求1所述的旋转式密封性测试装置,其特征在于,所述密封结构包括分别设置于所述进/排气通道、测试通道、测试腔的邻近容纳腔室一侧的开口处的第一密封圈;

或者是,

所述密封结构包括套接于旋转体外周的密封套及第二密封圈,所述密封套的侧壁上设置有第一通孔和第二通孔,所述第一通孔与所述气路通道的第一连接口连通,所述第二通孔与所述气路通道的第二连接口连通;所述测试腔的邻近容纳腔室一侧的开口处设置有所述第二密封圈。

3.根据权利要求1所述的旋转式密封性测试装置,其特征在于,还包括分压结构,所述主壳体上还设置有与所述容纳腔室相导通的分压通道;所述分压结构包括分压结构本体,所述分压结构本体上设置有分压腔,所述分压腔与所述分压通道相导通;

在旋转体相对主壳体沿逆时针或顺时针旋转过程中,气密性测试结构还要同时满足以下条件:

条件三:气路通道的第一连接口与测试通道对接连通、且它们之间的连接处通过所述密封结构密封,气路通道的第二连接口与分压通道对接连通、且它们之间的连接处通过所述密封结构密封,使得测试腔、测试通道、气路通道、分压通道与分压腔依次导通形成密封的大漏测试通道。

4.根据权利要求3所述的旋转式密封性测试装置,其特征在于,所述密封结构包括分别设置于所述进/排气通道、测试通道、分压通道、测试腔和分压腔的邻近容纳腔室一侧的开口处的第一密封圈;

或者是,

所述密封结构包括套接于旋转体外周的密封套及第二密封圈,所述密封套的侧壁上设置有第一通孔和第二通孔,所述第一通孔与所述气路通道的第一连接口连通,所述第二通孔与所述气路通道的第二连接口连通;所述测试腔和分压腔的邻近容纳腔室一侧的开口处均设置有所述第二密封圈。

5.根据权利要求3所述的旋转式密封性测试装置,其特征在于,所述主壳体上还设置有与所述容纳腔室相导通的分压排气通道;在旋转体相对主壳体沿逆时针或顺时针旋转过程中,气密性测试结构还要同时满足以下条件:

条件四:气路通道的第一连接口与分压通道对接连通、且它们之间的连接处通过所述密封结构密封,气路通道的第二连接口与分压排气通道对接连通、且它们之间的连接处通过所述密封结构密封,使得分压腔、分压通道、气路通道、分压排气通道依次导通形成密封的分压排气通道。

6.根据权利要求5所述的旋转式密封性测试装置,其特征在于,所述密封结构包括分别设置于所述进/排气通道、测试通道、分压通道、测试腔、分压腔、分压排气通道的邻近容纳腔室一侧的开口处的第一密封圈;

或者是,

所述密封结构包括套接于旋转体外周的密封套及第二密封圈,所述密封套的侧壁上设置有第一通孔和第二通孔,所述第一通孔与所述气路通道的第一连接口连通,所述第二通孔与所述气路通道的第二连接口连通;所述测试腔和分压腔的邻近容纳腔室一侧的开口处均设置有所述第二密封圈。

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