[发明专利]大规模集成电路的测试方法及系统有效
申请号: | 202010747756.8 | 申请日: | 2020-07-30 |
公开(公告)号: | CN111624475B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 杨兵 | 申请(专利权)人: | 北京燧原智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大规模集成电路 测试 方法 系统 | ||
1.一种大规模集成电路的测试方法,其特征在于,包括:
检验人员根据需求规格书中的时钟和复位需求完成验证规格书,所述验证规格书为所述检验人员根据需求规格书中的时钟和复位需求完成的,根据所述验证规格书生成通用验证环境;
检验人员根据待测电路和电路规格书填写绑定输入文件模板,得到绑定输入文件;
根据所述绑定输入文件生成绑定组件,检验人员执行所述绑定组件,以便所述绑定组件将所述待测电路的电路信息和基于所述电路规格书得到的验证激励配置到所述通用验证环境的检验器中,得到完整验证环境;
启动参考时钟;将验证激励输入至所述待测电路和所述绑定组件,以便所述待测电路根据所述验证激励产生电路信息,将所述电路信息反馈至所述绑定组件,所述电路信息包括时钟信号、时钟使能信号或复位信号的输出;所述绑定组件用于将所述验证激励以及所述待测电路反馈的所述电路信息发送至所述检验器;
所述检验器根据所述验证激励和所述电路信息验证进行验证。
2.一种大规模集成电路的测试方法,其特征在于,包括:
在形成电路规格书之前,响应于检验人员的第一操作,根据验证规格书生成通用验证环境,所述验证规格书为所述检验人员根据需求规格书中的时钟和复位需求完成的,所述第一操作用于在电子设备中生成通用验证环境;
在形成电路规格书之后,响应于检验人员的第二操作,获取绑定输入文件,根据所述绑定输入文件生成绑定组件,所述第二操作用于根据电路规格书在绑定输入文件模板中输入与待测电路吻合的参数,得到绑定输入文件;
响应于检验人员的第三操作,执行所述绑定组件,以便所述绑定组件将待测电路的电路信息和基于所述电路规格书得到的验证激励配置到所述通用验证环境的检验器中,得到完整验证环境;所述第三操作用于控制所述绑定组件将所述待测电路的电路信息和所述基于电路规格书得到的验证激励配置到所述通用验证环境的检验器中,得到完整验证环境;
所述完整验证环境的包括检验器、参考时钟和绑定组件, 启动所述参考时钟;
将所述验证激励输入至所述待测电路和所述绑定组件,以便所述待测电路根据所述验证激励产生电路信息,将所述电路信息反馈至所述绑定组件,所述电路信息包括时钟信号、时钟使能信号或复位信号的输出;所述绑定组件用于将所述验证激励以及所述待测电路反馈的所述电路信息发送至所述检验器;
所述检验器根据所述验证激励和所述电路信息验证进行验证。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述电路信息为时钟信号,所述验证激励包括所述待测电路的时钟硬件配置和时钟软件配置;所述检验器根据所述验证激励和所述电路信息验证进行验证,包括:
时钟检验器根据所述参考时钟、时钟硬件配置和时钟软件配置生成一个在上升沿和下降沿时进行计数的待测时钟计数器;
使用待测时钟生成一个在上升沿和下降沿时进行计数的参考时钟计数器;
检验所述待测时钟计数器的实时计数结果与所述参考时钟计数器的实时计数结果是否相等,得到时钟信号的验证结果。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述电路信息为时钟使能信号,所述验证激励包括所述待测电路的时钟硬件配置和时钟软件配置;所述检验器根据所述验证激励和所述电路信息验证进行验证,包括:
时钟使能检验器根据所述参考时钟、时钟硬件配置和时钟软件配置检查所述待测电路反馈的时钟使能信号是否有效,得到时钟使能信号的验证结果。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述电路信息为复位信号,所述验证激励包括复位硬件配置和复位软件配置,所述检验器根据所述验证激励和所述电路信息验证进行验证,包括:
复位检验器根据所述参考时钟、复位硬件配置和复位软件配置检查所述待测电路反馈的复位信号是否有效,得到复位信号的验证结果。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述绑定输入文件生成绑定组件,包括:
使用自动化脚本将所述绑定输入文件生成为绑定组件。
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