[发明专利]一种晶体晶振的电性能参数测试设备

权利要求书

1.一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：包括从上至下依次设置的上机架(1)、工作大板(3)、下机架(4)，工作大板(3)的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘(612)的弹夹组件(6)，两个弹夹组件(6)的后方均设有用以移动晶体料盘(612)的放料组件(5)，放料组件(5)的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件(2)，两个弹夹组件(6)之间设有用以测试电性能参数的测试组件(7)。

2.根据权利要求1所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)包括两组间隔设置的测试探针(763)，测试探针(763)可相对所述工作大板(3)纵向移动，每组测试探针(763)的上方均设有可相对测试探针(763)横向移动的定位座(711)，定位座(711)的顶部向下开有可容纳晶体的定位槽(714)。

3.根据权利要求2所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)还包括定位板(73)，定位板(73)的顶部间隔设置有两个定位导轨(72)，移动封板(712)的底部间隔设有两个定位滑块(713)，定位滑块(713)与所述定位导轨(72)滑动连接，移动封板(712)通过定位滑块(713)、定位导轨(72)与所述定位板(73)滑动连接，所述定位座(711)固定于所述移动封板(712)的底部。

4.根据权利要求2所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)还包括调节立板(761)，调节立板(761)与调节支撑板(764)滑动连接，调节立板(761)的上部与调节横板(765)固定，调节横板(765)的顶部设有所述测试探针(763)。

5.根据权利要求1所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述弹夹组件(6)包括弹夹盒(61)，弹夹盒(61)内从上至下间隔放置有多个可抽拉的料盘(612)，料盘(612)内设有多个用以放置晶体的料孔(6121)，料盘(612)远离所述放料组件(5)的一端设有定位孔(6122)。

6.根据权利要求5所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述放料组件(5)包括可相对所述工作大板(3)横向移动的抓取舌板(52)，抓取舌板(52)靠近所述弹夹盒(61)的一端设有与所述定位孔(6122)配合的定位销(53)。

7.根据权利要求5所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述取料组件(2)包括两个间隔设置的吸头组件(21)，所述吸头组件(21)可相对所述工作大板(3)横向移动，吸头组件(21)包括可相对所述工作大板(3)纵向移动的用以吸取晶体的吸嘴(212)。

8.根据权利要求7所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述吸头组件(21)还包括吸头固定板(216)，吸头固定板(216)的前壁设有吸头滑轨(215)，还包括吸头连接板(213)，吸头连接板(213)的后壁设有吸头滑块(214)，吸头滑块(214)与所述吸头滑轨(215)滑动连接，所述吸头连接板(213)的下方设有所述吸嘴(212)。

9.根据权利要求7所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述取料组件(2)还包括取料固定板(25)，取料电机(24)通过吸头丝杠、吸头块的配合带动取料固定板(25)相对工作大板(3)横向移动，取料固定板(25)的前壁设有所述吸头组件(21)。

10.根据权利要求9所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述取料固定板(25)的一端设有上CCD组件(8)，上CCD组件(8)包括与取料固定板(25)固定的相机连接板(81)，相机连接板(81)的前壁设有相机，相机镜头(82)的下方设有同轴光源件(83)，同轴光源件(83)的顶部向下开有与相机镜头(82)同轴设置的通孔，同轴光源件(83)位于所述放料组件(5)顶部放置的料盘(612)上方。