[发明专利]实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法

权利要求书

1.一种实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的系统包括：

测试控制电路模块，接收外部的测试使能信号bist_en，输出端分别与测试向量选择电路模块和待测电路相连接，用于控制测试电路的运转；

测试向量选择电路模块，接收测试向量选择信号pattern_sel，接收端与测试控制电路模块的输出端相连接，用于根据测试向量选择信号pattern_sel选择一个或多个测试向量进行测试；

测试向量产生电路模块，接收端与测试向量选择电路模块的输出端相连接，输出端与待测电路相连接，用于产生测试向量；

响应分析电路模块，输入端与测试向量选择电路模块和待测电路相连接，用于比较存储器中读取的数值与测试向量，并输出测试完成信号bist_done和测试成功信号bist_ok。

2.根据权利要求1所述的实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的测试向量选择电路模块包括：

测试向量选择信号暂存单元，与所述的测试控制电路模块相连接，接收用户配置的测试向量选择信号pattern_sel和测试控制电路模块输出的一次算法完成信号fsm_complete，输出暂存中间值psel_temp；

测试向量编码信号生成单元，接收端与所述的测试向量选择信号暂存单元相连接，输出端与所述的测试向量产生电路模块相连接，接收用户配置的测试向量选择信号pattern_sel；输出测试向量编码信号pattern_id，用于产生测试向量信号bist_pattern。

3.根据权利要求2所述的实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的测试向量选择电路模块还包括：

或非运算单元，接收端与所述的测试向量选择信号暂存单元相连接，输出端与所述的响应分析电路模块相连接，输出全部向量测试完成信号pattern_complete，所述的向量测试完成信号pattern_complete用于产生测试完成信号bist_done。

4.根据权利要求2所述的实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的测试向量选择信号暂存单元包括X组输出子单元，所述的X组输出子单元依次相连，用于按照运算优先级依次测试测试向量；每组输出子单元与暂存中间值psel_temp的位数依次对应，在第n个输出子单元测试完成的情况下，输出psel_temp[n-1]的值为0，其中，n大于等于1且小于等于X。

5.根据权利要求2所述的实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的测试向量选择信号暂存单元包括6个D触发器、5个与门和5个非门，所述的6个D触发器的D端均接收测试向量选择信号pattern_sel，时钟端均接相同的时钟信号，Q端均输出暂存中间值psel_temp，所述的5个与门和5个非门组成5个与非门，所述的6个D触发器通过5个与非门相连接。

6.根据权利所述的要求2所述的实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的测试向量编码信号生成单元包括X组编码子单元，所述的X组编码子单元依次相连，用于按照运算优先级依次根据暂存中间值运算输出测试向量编码信号pattern_id；每组编码子单元依次判断暂存中间值psel_temp的位数是否有效，在psel_temp[m]的值为1的情况下，输出对应的测试向量编码信号pattern_id。

7.根据权利所述的要求2所述的实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的测试向量编码信号生成单元包括D触发器、7个二选一二路选择器、4个或门、5个与门和5个非门，所述的7个二选一二路选择器依次相连接，优先度最高的二选一二路选择器与D触发器的D端相连接，所述的5个与门和5个非门组成5个与非门，优先度较低的5个二选一二路选择器与5个与非门的输出端相连接，所述的4个或门的输出端分别与4个优先度较低的二选一二路选择器的与非门的输入端相连接，所述的与非门和或门均输入暂存中间值psel_temp，优先度最高的二选一二路选择器接收测试使能信号bist_en，所述的D触发器的Q端输出测试向量编码信号pattern_id。