[发明专利]一种键盘开短路检测装置及方法

权利要求书

1.一种键盘开短路检测装置，其特征在于：该检测装置包括MCU（1）、按键接口电路（2）、ADC电压采样电路（3）和开短路检测电路（4），

所述MCU（1）完成硬件层的资源调用和调配，对所述ADC电压采样电路（3）采集的电压数据进行处理，同时与上位机进行通信；

所述按键接口电路（2）用于接入待测键盘的按键回路；

所述ADC电压采样电路（3）用于采集待测键盘按键回路的开短路电压数据采集并传输给所述MCU（1）；

所述开短路检测电路（4）提供若干路开短路测试通道，并对每条通道上的按键进行电平上拉和下拉，对键盘按键进行开短路检测。

2.根据权利要求1所述的一种键盘开短路检测装置，其特征在于：所述开短路检测电路（4）提供32路开短路测试通道。

3.根据权利要求2所述的一种键盘开短路检测装置，其特征在于：所述开短路检测电路（4）由第一模拟开关（U9）、第二模拟开关（U10）、第三模拟开关（U12）和第四模拟开关（U13）组成，所述第一模拟开关（U9）和所述第二模拟开关（U10）共同构成16路测试通道，所述第三模拟开关（U12）和所述第四模拟开关（U13）共同构成另外16路测试通道，所述按键接口电路（2）依次连接在所述第一模拟开关（U9）和所述第二模拟开关（U10）以及所述第三模拟开关（U12）和所述第四模拟开关（U13）构成的通道处。

4.根据权利要求1所述的一种键盘开短路检测装置，其特征在于：所述ADC电压采样电路（3）内置于所述MCU（1）中，所述ADC电压采样电路（3）包括ADC模块及缓冲电路，所述缓冲电路由差分放大器组成。

5.根据权利要求1所述的一种键盘开短路检测装置，其特征在于：所述MCU（1）选自型号为STM32F407VET6。

6.一种利用如权利要求3所述的键盘开短路检测装置对键盘开短路进行检测的方法，其特征在于，该方法包括开路检测和短路检测的步骤：

a.开路检测步骤：

将待测键盘按键接入到所述按键接口电路（2）中，设定在不按下按键时，所述ADC电压采样电路（3）的采样点为高电平，当按键按下后，所述ADC电压采样电路（3）的采样点变为低电平，此时，依次使能待测键盘的每一个按键，同时所述MCU（1）实时采集所述ADC电压采样电路（3）的采集点的电平变化，再通过分析采集点的电平是否按照设定的方式变化，进而判断键盘按键回路是否存在开路；

b.短路检测步骤：

将待测键盘按键接入到所述按键接口电路（2）中，设定在键盘不短路状态时所述ADC电压采样电路（3）的采样点为高电平，当产生短路后，所述ADC电压采样电路（3）的采样点变为低电平，依次切换待测键盘的每一个按键，同时所述MCU（1）实时采集所述ADC电压采样电路（3）的采集点的电平变化，再通过分析采集点的电平是否按照设定的方式变化，进而判断键盘按键回路是否存在短路。