[发明专利]一种键盘开短路检测装置及方法

说明书

本发明提供了一种体积小、成本低、测试快速便捷、且能保证测试精度的键盘开短路检测装置以及开短路检测方法。本发明装置包括MCU（1）、按键接口电路（2）、ADC电压采样电路（3）和开短路检测电路（4），MCU完成硬件层的资源调用和调配，对ADC电压采样电路采集的电压数据进行处理，同时与上位机进行通信，按键接口电路用于接入待测键盘的按键回路，ADC电压采样电路用于采集待测键盘按键回路的开短路电压数据采集并传输给MCU，开短路检测电路提供若干路开短路测试通道，并对每条通道上的按键进行电平上拉和下拉，对键盘按键进行开短路检测；其方法以下步骤：开路检测和短路检测的步骤。本发明可应用于检测领域。

技术领域

本发明涉及检测领域，尤其涉及一种键盘开短路检测装置及方法。

背景技术

常规矩阵键盘在生产过程中会出现按键短路（死键）、按键开路、线路短路、开路等情况。原因是常规键盘是由线路板、按键和矩阵输出接口FPC（柔性电路板）组成，这三部分（如图1）在生产过程中都会有一定概率出现开短路的情况，由此引起整个键盘的开短路。

现有检测方式大都是通过万用表欧姆档从键盘接口端接入测量开短路，因为万用表只有一对表笔，所以一次性只能测量一个回路，要测量整个键盘还需要用一个继电器板来把键盘上的回路一组一组地依次切换连接到万用表上。万用表通过测量的阻值来判断键盘是否存在开短路。此种方式可以通过万用表测量开短路，从而对键盘的品质进行判断。但是，这样结果不直观，还需要其他条件对测量的阻值进行分析才能判断结果，而且用于数据采集的万用表价格昂贵且体积较大，在工业生产测试中增加了不便。

现有技术存在如下不足：1、用万用表欧姆档检测键盘开短路，时间长，体积大，成本高；2、用继电器切换测试通道，速度慢；3、需要额外软件对测量阻值进行解析判断才能得出结果，不直接。为了克服上述不足，需要设计一种成本低、测试快速便捷、且能保证测试精度的键盘开短路检测装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种体积小、成本低、测试快速便捷、且能保证测试精度的键盘开短路检测装置，以及利用该装置对键盘进行开短路检测的方法。

本发明所述键盘开短路检测装置所采用的技术方案是：本发明所述装置包括MCU、按键接口电路、ADC电压采样电路和开短路检测电路，

所述MCU完成硬件层的资源调用和调配，对所述ADC电压采样电路采集的电压数据进行处理，同时与上位机进行通信；

所述按键接口电路用于接入待测键盘按键回路；

所述ADC电压采样电路用于采集待测键盘按键回路的开短路电压数据采集并传输给所述MCU；

所述开短路检测电路提供若干路开短路测试通道，并对每条通道上的按键进行电平上拉和下拉，对键盘按键进行开短路检测。

上述方案可见，本发明以MCU、按键接口电路、ADC电压采样电路和开短路检测电路建立开短路检测装置，利用按键接口电路方便的接入待测键盘按键，通过MCU实现不同按键检测的快速自动切换控制，开短路检测电路提供若干路开短路测试通道，并对每条通道上的按键进行电平上拉和下拉，再通过ADC电压采样电路对采样点的电平值进行采集，通过电平值变化即可判断待测键盘按键回路的开短路情况，该装置结构简单，与现有的采用万用表等昂贵且体积较大的检测设备相比，本发明装置大大减小了体积，也降低了成本；通过MCU的快速自动切换控制，实现按键检测通道的快速切换，提高了检测效率，这避免了原有的采用继电器切换测试通道造成的低效率的现象；此外，通过MCU分析采样点的电平变化进而判断待测键盘按键回路的开短路情况，这保证了检测精度，避免人为因素的影响而出现检测结果错误。

进一步地，所述开短路检测电路提供32路开短路测试通道。由此可见，本发明可同时对多个键盘按键进行检测，极大地提高了测试效率。