[发明专利]一种芯片调试系统、方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 202010769827.4 | 申请日: | 2020-08-04 |
公开(公告)号: | CN111737155B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 吴飞;崔駜雄;刘彦 | 申请(专利权)人: | 北京燧原智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 调试 系统 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种芯片调试系统,其特征在于,包括:
调试软件模块、至少一个芯片内部待调试模块、调试侧写模块以及调试信息存储模块;
其中,所述调试软件模块,用于将与待调试程序对应的计算图编程模型拆分成至少一个算子,根据与各所述算子对应的硬件执行指令,生成与各算子对应的硬件执行指令包;为各所述硬件执行指令包添加原始包标识符,所述原始包标识符为硬件执行指令包的标志信息;将各所述硬件执行指令包发送至各所述芯片内部待调试模块;从所述调试信息存储模块中读取时间戳调试包,根据时间戳调试包中的原始包标识符、时间戳信息、芯片内部待调试模块标识信息、事件类型标志以及补充信息,恢复出所述待调试程序在各所述芯片内部待调试模块中的分发处理时间点和耗时信息,得到芯片系统性能画像;
各所述芯片内部待调试模块,用于接收所述调试软件模块发送的各所述硬件执行指令包;执行各所述硬件执行指令包,获取各所述硬件执行指令包执行过程中的事件类型标志和补充信息,并根据各所述硬件执行指令包的原始包标识符、各所述硬件执行指令包执行过程中的事件类型标志和补充信息,生成与各所述硬件执行指令包对应的调试数据包;将与各所述硬件执行指令包对应的调试数据包嵌入到当前数据流中,通过总线互联网络发送至所述调试侧写模块;
所述调试侧写模块,用于接收各所述芯片内部待调试模块发送的与各所述硬件执行指令包对应的调试数据包;根据绝对延时信息和统计延时信息,计算各芯片内部待调试模块和所述调试侧写模块之间的延迟时间;根据接收各芯片内部待调试模块发送的与各硬件执行指令包对应的调试数据包的接收时间、以及所述各芯片内部待调试模块和所述调试侧写模块之间的延迟时间,计算各芯片内部待调试模块发送的与各硬件执行指令包对应的调试数据包的发出时间戳;将各调试数据包的发出时间戳和与各调试数据包对应的芯片内部待调试模块标识信息添加至各调试数据包中,得到与各所述调试数据包对应的时间戳调试包;通过总线互联网络将各所述时间戳调试包发送至所述调试信息存储模块;
所述调试信息存储模块,用于接收所述调试侧写模块发送的各所述时间戳调试包,通过环形缓冲器的方式存储各所述时间戳调试包。
2.一种芯片调试方法,应用于如权利要求1所述的芯片调试系统中的调试软件模块中,其特征在于,包括:
调试软件模块将与待调试程序对应的计算图编程模型拆分成至少一个算子,根据与各所述算子对应的硬件执行指令,生成与各算子对应的硬件执行指令包;
所述调试软件模块为各所述硬件执行指令包添加原始包标识符,所述原始包标识符为硬件执行指令包的标志信息;
所述调试软件模块将各所述硬件执行指令包发送至各芯片内部待调试模块;
所述调试软件模块从调试信息存储模块中读取时间戳调试包,根据时间戳调试包中的原始包标识符、时间戳信息、芯片内部待调试模块标识信息、事件类型标志以及补充信息,恢复出所述待调试程序在各芯片内部待调试模块中的分发处理时间点和耗时信息,得到芯片系统性能画像。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述调试软件模块为各所述硬件执行指令包添加原始包标识符,包括:
所述调试软件模块通过散列函数或者顺序增加方式,为各所述硬件执行指令包添加原始包标识符。
4.一种芯片调试方法,应用于如权利要求1所述的芯片调试系统中的芯片内部待调试模块中,其特征在于,包括:
芯片内部待调试模块接收调试软件模块发送的各硬件执行指令包;
所述芯片内部待调试模块执行各硬件执行指令包,获取各硬件执行指令包执行过程中的事件类型标志和补充信息,并根据各硬件执行指令包的原始包标识符、各硬件执行指令包执行过程中的事件类型标志和补充信息,生成与各硬件执行指令包对应的调试数据包,其中,参与调试的事件类型包括:开始、结束、拆分以及异常,所述事件类型标志包括:开始标志、结束标志、拆分标志以及异常标志,所述补充信息包括:虚拟通道信息和优先级信息;参与调试的事件类型是根据与待调试程序对应的事件类型配置信息确定的;
所述芯片内部待调试模块将与各硬件执行指令包对应的调试数据包嵌入到当前数据流中,通过总线互联网络发送至调试侧写模块。
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