[发明专利]一种实现多功能复合透明导电薄膜的方法及应用在审

专利信息
申请号: 202010773063.6 申请日: 2020-08-04
公开(公告)号: CN112071503A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 陈新亮;李跃龙;刘璋;侯国付;赵颖;张晓丹 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01B13/00 分类号: H01B13/00
代理公司: 天津耀达律师事务所 12223 代理人: 张耀
地址: 300350 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 实现 多功能 复合 透明 导电 薄膜 方法 应用
【说明书】:

一种实现多功能复合透明导电薄膜的方法及应用,属于光电子器件领域。利用真空镀膜技术生长氧化物薄膜,而磁控溅射技术生长超薄金属薄膜,并通过PS微球模板或光刻模板技术辅助构建金属网格结构,从而实现多功能复合薄膜Glass/Oxide‑B/Metal‑Mesh/Oxide‑T。相比于常规TCO薄膜,本发明设计和实现的多功能复合薄膜Glass/Oxide‑B/Metal‑Mesh/Oxide‑T具有生长温度低,器件界面处低损伤,微观网格结构可调控,兼具透明导电以及传输电子或空穴等性能。该类型复合薄膜Oxide‑B/Metal‑Mesh/Oxide‑T可应用于光电子器件领域。

技术领域

本发明属于光电子器件(如太阳电池和发光二极管等)领域,特别是复合多功能透明导电薄膜及太阳电池应用。

背景技术

透明导电氧化物(transparent conductive oxide-TCO)薄膜材料是太阳电池的重要组成部分,参见文献:A.V.Shah,H.Schade,M.Vanecek,et al.Progress inPhotovoltaics 12(2004)113-142、J.Müller,B.Rech,J.Springer,et al.Solar Energy77(2004)917-930。当前薄膜电池中应用最为广泛的TCO薄膜是F掺杂SnO2薄膜(SnO2:F-FTO)和Sn掺杂In2O3薄膜(In2O3:Sn-ITO)。常规FTO和ITO薄膜通常需要较高的生长温度较高(~200-500℃)。TCO薄膜在多种光电器件(如太阳电池,发光二极管等)中扮演着重要的角色。对于太阳电池方面的应用来说,TCO可作为硅异质结太阳电池和薄膜太阳电池(硅基薄膜,CIGS,CdTe,Perovskite,OPV)的透明电极和抗反射层。

作为太阳电池电极层,TCO应该在约320-1200nm有很高的透过率,对于传统的ZnO,ITO或FTO薄膜来说,很难平衡近红外(NIR)与近紫外(NUV)的透过率。当载流子浓度提高,由于B-M效应造成带隙展宽获得更好的NUV透过率时,由于高的载流子浓度增加载流子的吸收因而导致了NIR透过率的减小。为了能够解决这种矛盾,如对于ZnO-TCO薄膜来说,采用MgO作为一种掺杂剂或降低,参考文献:S.H.Jang,S.F.Chichibu,Structural,elastic,andpolarization parameters and band structures of wurtzite ZnO and MgO,Journalof Applied Physics,2012,112:073503-073506;X.Gu,L.Zhu,Z.Ye,et al.Highlytransparent and conductive Zn0.85Mg0.15O:Al thin films prepared by pulsed laserdeposition,Solar Energy Materials and Solar Cells,2008,92:343-347;S.W.Shin,I.Y.Kim,G.H.Lee,et al,Design and growth of quaternary Mg and Ga codoped ZnOthin films with transparent conductive characteristics,Crystal GrowthDesign,2011,11:4819-4824。这样既展宽了带隙,又不会因为高的载流子减少了近红外边的透过率,这将同时改善近红外和近紫外的透过率。因此,这将有利于改善硅基太阳电池的量子效率。此外,引入氢气能够改善ZnO薄膜的电学性能,参考文献:Y.R.Park,J.Kim,Y.S.Kim,.Effect of hydrogen doping in ZnO thin films by pulsed DC magnetronsputtering,Applied Surface Science,2009,255:9010-9014.),H能够作为浅施主改善薄膜的特性,参见文献:Chris G.Van de Walle.Hydrogen as a Cause of Doping in ZincOxide,Physical Review Letters 85(2000)1012-1015。

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