[发明专利]基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法在审

专利信息
申请号: 202010777849.5 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN114063193A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 赵荣华;张威;贾会冲;曹桐生;赵兰;王路;丁烽娟 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司华北油气分公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 史萌杨
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 lld gr 联合 刻度 致密 砂岩 密度 测井 曲线 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)根据目标区的测井曲线,确定砂岩段的深度;

2)根据井径曲线和钻头直径,确定砂岩段的非扩径段和扩径段;

3)对非扩径段的实测数据进行回归分析,所述实测数据包括实测密度数据以及对应深度的实测深侧向电阻率、实测自然伽马值,得到非扩径段关系模型,并将非扩径段关系模型作为扩径段关系模型;所述非扩径段关系模型/扩径段关系模型为:

DEN=a×lg(LLD)+b×GR+c

式中,DEN为非扩径段/扩径段的密度,LLD为非扩径段/扩径段的深侧向电阻率,GR为非扩径段/扩径段的自然伽马值;

4)根据扩径段的深侧向电阻率测井曲线和自然伽马测井曲线,以及扩径段关系模型,得到扩径段校正后的密度测井曲线。

2.根据权利要求1所述的基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法,其特征在于,步骤1)中,根据目标区的自然伽马测井曲线,确定砂岩段的深度。

3.根据权利要求1所述的基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法,其特征在于,步骤3)中,若实测数据有至少两组,则选择齿的幅度最小的一组实测数据进行回归分析;所述齿的幅度为:

Etooth=(GRtooth-GRmin)/GRtooth

式中,Etooth为齿的幅度,GRtooth为齿的伽马值,GRmin为该段测井曲线的最小伽马值。

4.根据权利要求1所述的基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法,其特征在于,步骤2)中,根据井径曲线和钻头直径,确定砂岩段的非扩径段和扩径段的手段为:

根据井径曲线和钻头直径,确定非扩径点和扩径点:若某个深度点有∣Dr-Db∣≤K,则为非扩径点;否则,为扩径点;其中,Dr为井眼直径,Db为钻头直径,K为井径扩大率;

根据扩径点和非扩径点,若连续扩径的地层厚度大于给定的截止值,则该段地层为扩径段;若连续非扩径的地层厚度大于给定的截止值,则该段地层为非扩径段。

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