[发明专利]基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法

说明书

本发明属于石油天然气勘探开发技术领域，具体涉及一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法。该方法首先确定砂岩段的深度；然后确定砂岩段的非扩径段和扩径段；接着对非扩径段的实测数据进行回归分析，所述实测数据包括实测密度数据以及对应深度的实测深侧向电阻率、实测自然伽马值，得到非扩径段关系模型，并将非扩径段关系模型作为扩径段关系模型；最后根据扩径段的深侧向电阻率测井曲线和自然伽马测井曲线，以及扩径段关系模型，得到扩径段校正后的密度测井曲线。本发明确定的地层密度更准确，更接近真实的地层密度测井值。该方法可操作性强，影响因素小，校正准确度高，可以提高油气田勘探和开发中致密砂岩气层识别成功率。

技术领域

本发明属于石油天然气勘探开发技术领域，具体涉及一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法。

背景技术

在油气田勘探开发钻井过程中，经常发生井径扩大(扩径)现象，井径扩径主要是由于在泥岩段经泥浆浸泡地层变软垮塌造成，也可能是脆性地层在和钻头摩擦过程中井壁崩落所致。由于泥浆密度远小于岩石密度，并且密度测井探测范围很小，是贴井壁测量，当扩径严重时或井壁很不规则时，往往导致表征地层孔隙度的密度(DEN)测井测出的地层密度值比实际地层密度明显偏低。因此，井径扩径后，密度曲线等探测深度很浅的曲线数据不能直接使用，需要进行校正。

对于井径扩大段密度(DEN)测井曲线的校正，传统的做法有三种。一是分别根据声波时差、补偿密度及补偿中子测井仪器的工作原理及其初始刻度的裸眼井的井径大小，利用井径测井进行校正，不同测井仪器公司都给出了相应的校正图版。但这种方法在致密石英砂岩的密度(DEN)测井曲线的校正中并不适用，主要是因为校正图版对井径测井的精度要求很高，并且针对各公司测井仪器特性与模拟不同环境条件研制,有一定的适用范围。而扩径段井径往往不规则，很难满足校正图版所需要的精度，所以校正的结果误差较大，而且过程比较繁琐；二是利用与密度(DEN)曲线相关度很大的声波(AC)和中子(CNL)曲线值进行校正，但由于这两种测井曲线探测深度也很小，在扩径段也同样失真，校正的密度值依然不准确；三是利用探测距离大、不易受扩径影响的深侧向电阻率曲线LLD曲线进行校正，但由于LLD和密度(DEN)曲线相关度较低，一般校正的精准度较低。

授权公告号为CN100510779C的中国发明专利公开了一种利用声波曲线刻度法确定扩径层段地层密度的方法，该方法首先确定扩径层段和非扩径层段，接着在非扩径段，建立密度测井值和声波测井值的回归关系，然后将建立的回归关系推广到扩径段，以根据扩径段的声波测井值确定扩径段的地层密度。该方法对声波测井曲线质量要求较高，在声波与密度曲线相关系数高，互换算的声波与密度结果曲线之间没有测量深度误差，其结果可以满足工作需要。但是对于声波曲线质量较差，由声波换算出的曲线，其误差传递会进一步扩大，无法准确校正密度值。

发明内容

本发明提供了一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法，用以解决现有技术无法准确校正密度值的问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案包括：

本发明提供了一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法，包括如下步骤：

1)根据目标区的测井曲线，确定砂岩段的深度；

2)根据井径曲线和钻头直径，确定砂岩段的非扩径段和扩径段；

3)对非扩径段的实测数据进行回归分析，所述实测数据包括实测密度数据以及对应深度的实测深侧向电阻率、实测自然伽马值，得到非扩径段关系模型，并将非扩径段关系模型作为扩径段关系模型；所述非扩径段关系模型/扩径段关系模型为：

DEN＝a×lg(LLD)+b×GR+c

式中，DEN为非扩径段/扩径段的密度，LLD为非扩径段/扩径段的深侧向电阻率，GR为非扩径段/扩径段的自然伽马值；