[发明专利]自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法在审
申请号: | 202010784765.4 | 申请日: | 2020-08-06 |
公开(公告)号: | CN111999762A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 康宏伟 | 申请(专利权)人: | 上海昊博影像科技有限公司 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00;G01N23/04 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 曾令军 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 曝光 检测 功能 测试 设备 系统 以及 方法 | ||
1.一种自动曝光检测功能测试设备,其特征在于,所述自动曝光检测功能测试设备包括:暗盒、LED光源以及控制器,所述LED光源与所述控制器连接;
所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧,且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧;
所述控制器固定在所述暗盒外部,与所述LED光源连接,所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号,并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
2.如权利要求1所述的自动曝光检测功能测试设备,其特征在于,所述自动曝光检测功能测试设备还包括底座,所述底座与所述LED光源相对,通过所述底座承载所述平板探测器。
3.如权利要求2所述的自动曝光检测功能测试设备,其特征在于,所述底座上设置有出线口,所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。
4.如权利要求3所述的自动曝光检测功能测试设备,其特征在于,所述控制器还包括串口,所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。
5.如权利要求2所述的自动曝光检测功能测试设备,其特征在于,所述暗盒包括顶板,所述顶板与所述底座相对,所述LED光源、控制器分别设置在所述顶板两侧。
6.一种自动曝光检测功能测试系统,其特征在于,所述自动曝光检测功能测试系统包括:自动曝光检测功能测试设备、计算机,所述自动曝光检测功能测试设备与所述计算机连接;
所述自动曝光检测功能测试设备包括:暗盒、LED光源以及控制器,所述LED光源与所述控制器连接;
所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧,且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧;
所述控制器固定在所述暗盒外部,与所述LED光源连接,所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号,并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
7.如权利要求6所述的自动曝光检测功能测试系统,其特征在于,所述暗盒包括底座,所述底座与所述LED光源相对,通过所述底座承载所述平板探测器。
8.如权利要求7所述的自动曝光检测功能测试系统,其特征在于,所述底座上设置有出线口,所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。
9.如权利要求8所述的自动曝光检测功能测试系统,其特征在于,所述控制器还包括串口,所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。
10.一种自动曝光检测功能测试方法,其特征在于,所述自动曝光检测功能测试方法应用于权利要求5-9任一项所述的自动曝光检测功能测试系统,所述自动曝光检测功能测试方法包括:
S101:控制器接收启动指令,控制LED光源发出时长和光强随机的光信号,并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机;
S102:所述计算机根据所述曝光参数以及平板探测器发送的探测信号检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
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