[发明专利]自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法

说明书

本发明提供一种自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法，该自动曝光检测功能测试设备的LED光源与控制器连接；LED光源固定在暗盒内部一侧，且LED光源的出光面朝向暗盒内部放置平板探测器的一侧；控制器固定在暗盒外部，与LED光源连接，控制器控制LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测平板探测器的自动曝光检测功能。本发明通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。

技术领域

本发明涉及自动曝光检测领域，尤其涉及一种自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法。

背景技术

自动曝光技术已经逐渐应用在数字X射线平板摄影技术中，自动曝光检测技术逐步成为平板探测器的标准配置，但是由于该项技术还存在诸多问题，自动曝光检测技术还在不断优化。

传统自动曝光测试方法是通过人工调整X射线曝光剂量，模拟实际使用场景，实现功能性能测试。但是人工测试时，测试的条件有限，人工误差也比较大，测试的涵盖面就有限，导致不能尽可能地发现存在的问题，另外大量的x光曝光实验会对人体造成一定的损害，也会影响x光机发光球管的寿命。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提出一种自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法，将LED光源和平板探测器设置在暗盒中，通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。

为解决上述问题，本发明采用的一个技术方案为：一种自动曝光检测功能测试设备，所述自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒、LED光源以及控制器，所述LED光源与所述控制器连接；所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧，且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧；所述控制器固定在所述暗盒外部，与所述LED光源连接，所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。

进一步地，所述自动曝光检测功能测试设备还包括底座，所述底座与所述LED光源相对，通过所述底座承载所述平板探测器。

进一步地，所述底座上设置有出线口，所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。

进一步地，所述控制器还包括串口，所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。

进一步地，所述暗盒包括顶板，所述顶板与所述底座相对，所述LED光源、控制器分别设置在所述顶板两侧。

基于相同的发明构思，本发明还提出一种自动曝光检测功能测试系统，所述自动曝光检测功能测试系统包括：自动曝光检测功能测试设备、计算机，所述自动曝光检测功能测试设备与所述计算机连接；所述自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒、LED光源以及控制器，所述LED光源与所述控制器连接；所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧，且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧；所述控制器固定在所述暗盒外部，与所述LED光源连接，所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。

进一步地，所述自动曝光检测功能测试设备还包括底座，所述底座与所述LED光源相对，通过所述底座承载所述平板探测器。

进一步地，所述底座上设置有出线口，所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。

进一步地，所述控制器还包括串口，所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。