[发明专利]光学试验用装置和光学测定器具的试验方法

权利要求书

1.一种光学试验用装置，在对光学测定器具进行试验时使用，该光学测定器具向入射对象提供来自光源的入射光脉冲，取得该入射光脉冲被该入射对象反射的反射光脉冲，该光学试验用装置的特征在于，具备：

2个以上的试验用光源，其输出试验用光脉冲；

2个以上的光透射构件，其具有光透射区域，从上述2个以上的试验用光源分别接受上述试验用光脉冲，并使其透过上述光透射区域；以及

合波部，其对透过了上述2个以上的光透射构件的上述试验用光脉冲进行合波，提供给上述光学测定器具，其中，

上述光透射区域与在上述入射对象中相对于上述光学测定器具的距离是固定的距离固定面的各个对应，

从上述试验用光脉冲的各个被输出到到达上述合波部为止的到达时间不同，

上述到达时间的差与上述距离固定面之间的面间距离对应。

2.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述光学测定器具是ToF传感器。

3.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述试验用光源是激光二极管。

4.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述试验用光源是发光二极管。

5.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述光透射构件是液晶屏。

6.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述光透射构件是薄膜。

7.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述合波部是半反射镜。

8.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述合波部是分色镜。

9.根据权利要求1所述的光学试验用装置，其特征在于，

上述合波部是偏振光束分束器。

10.一种光学测定器具的试验方法，其特征在于，包括：

通过上述光学测定器具，从权利要求1～9的任意一项所述的光学试验用装置接受对上述试验用光脉冲进行合波所得的光脉冲的受光工序；

根据上述受光工序的受光结果，取得上述距离固定面的任意一个以上的形状的形状取得工序；以及

根据所取得的上述形状，评价上述光学测定器具的受光性能的性能评价工序。

11.一种光学测定器具的试验方法，其特征在于，包括：

通过上述光学测定器具，从权利要求1～9的任意一项所述的光学试验用装置接受对上述试验用光脉冲进行合波所得的光脉冲的受光工序；

根据上述受光工序的受光结果，取得上述距离固定面的边界的边界取得工序；以及

根据所取得的上述边界，评价上述光学测定器具的受光性能的性能评价工序。

12.一种光学测定器具的试验方法，其特征在于，包括：

通过上述光学测定器具，从权利要求1～9的任意一项所述的光学试验用装置接受对上述试验用光脉冲进行合波所得的光脉冲的受光工序；

根据上述受光工序的受光结果，取得上述距离固定面之间的面间距离的面间距离取得工序；以及

根据所取得的上述面间距离，评价上述光学测定器具的受光性能的性能评价工序。

13.一种光学测定器具的试验方法，其特征在于，包括：

通过上述光学测定器具，从权利要求1～9的任意一项所述的光学试验用装置接受对上述试验用光脉冲进行合波所得的光脉冲的受光工序；

根据上述受光工序的受光结果，取得上述入射对象中的任意2点之间的水平方向距离的水平方向距离取得工序；以及

根据所取得的上述水平方向距离，评价上述光学测定器具的受光性能的性能评价工序，其中，

上述水平方向是与上述距离固定面的法线方向垂直的方向。