[发明专利]光学试验用装置和光学测定器具的试验方法

说明书

本发明提供光学试验用装置和光学测定器具的试验方法。不再现设想实际进行测定的实际环境就能够进行光学测定器具的试验。光学试验用装置在对光学测定器具进行试验时使用，该光学测定器具向入射对象提供来自光源的入射光脉冲，取得入射光脉冲被该入射对象反射的反射光脉冲。光学试验用装置具备：输出试验用光脉冲的2个以上的试验用光源；2个以上的液晶屏，其具有光透射区域，从2个以上的试验用光源分别接受试验用光脉冲，并使其透过光透射区域；半反射镜，其对透过了2个以上的液晶屏的试验用光脉冲进行合波，提供给光学测定器具。光透射区域分别与在入射对象中相对于光学测定器具的距离是固定的距离固定面对应。

技术领域

本发明涉及取得反射光的器具的试验。

背景技术

以前，已知向距离测定的对象提供入射光而取得反射光的光学测定器具。测定该光学测定器具和距离测定的对象之间的距离(例如参照专利文献1、2、以及3)。此外，作为基于这样的距离测定而取得图像的传感器，已知ToF(Time of Flight：飞行时间)传感器。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2017-15729号公报

专利文献2：日本特开2006-126168号公报

专利文献3：日本特开2000-275340号公报

发明内容

发明要解决的问题

在对上述现有技术那样的光学测定器具进行试验时，重现设想实际进行测定的实际环境而进行试验。但是，实际环境的重现是繁琐的。

因此，本发明的课题在于：不重现设想实际进行测定的实际环境来进行光学测定器具的试验。

解决问题的方案

本发明的光学试验用装置在对光学测定器具进行试验时使用，该光学测定器具向入射对象提供来自光源的入射光脉冲，取得该入射光脉冲被该入射对象反射的反射光脉冲，该光学试验用装置构成为具备：2个以上的试验用光源，其输出试验用光脉冲；2个以上的光透射构件，其具有光透射区域，从上述2个以上的试验用光源分别接受上述试验用光脉冲，并使其透过上述光透射区域；合波部，其对透过了上述2个以上的光透射构件的上述试验用光脉冲进行合波，提供给上述光学测定器具，其中，上述光透射区域与在上述入射对象中相对于上述光学测定器具的距离是固定的距离固定面的各个对应，从上述试验用光脉冲的各个被输出到到达上述合波部为止的到达时间不同，上述到达时间的差与上述距离固定面之间的面间距离对应。

在对光学测定器具进行试验时使用上述那样构成的光学试验用装置，该光学测定器具向入射对象提供来自光源的入射光脉冲，取得该入射光脉冲被该入射对象反射的反射光脉冲。2个以上的试验用光源输出试验用光脉冲。2个以上的光透射构件具有光透射区域，从上述2个以上的试验用光源分别接受上述试验用光脉冲，并使其透过上述光透射区域。合波部对透过了上述2个以上的光透射构件的上述试验用光脉冲进行合波，提供给上述光学测定器具。上述光透射区域与在上述入射对象中相对于上述光学测定器具的距离是固定的距离固定面的各个对应。从上述试验用光脉冲的各个被输出到到达上述合波部为止的到达时间不同。上述到达时间的差与上述距离固定面之间的面间距离对应。

此外，对于本发明的光学试验用装置，上述光学测定器具也可以是ToF传感器。

此外，对于本发明的光学试验用装置，上述试验用光源也可以是激光二极管。

此外，对于本发明的光学试验用装置，上述试验用光源也可以是发光二极管。

此外，对于本发明的光学试验用装置，上述光透射构件也可以是液晶屏。

此外，对于本发明的光学试验用装置，上述光透射构件也可以是薄膜。