[发明专利]一种薄硅片的制作方法在审
申请号: | 202010789873.0 | 申请日: | 2020-08-07 |
公开(公告)号: | CN111785611A | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 陈峰;陈振泉 | 申请(专利权)人: | 厦门陆远科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/683 |
代理公司: | 泉州市博一专利事务所(普通合伙) 35213 | 代理人: | 方传榜 |
地址: | 361000 福建省厦门市火炬高新区(翔安*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 制作方法 | ||
本发明公开了一种薄硅片的制作方法,涉及硅片加工领域,包括以下步骤:用抛光机台对硅片的第一面先进行抛光;对硅片进行清洗检查;在硅片的第一面贴上保护膜;对硅片的第二面进行研磨减薄;清除硅片上的保护膜;用贴蜡机将硅片的第一面贴至辅助硅片上,形成复合硅片;再对复合硅片上硅片的第二面进行抛光、清洗检验、脱蜡处理和清洗甩干。本发明的有益效果:本发明从抛光机台,抛光液,清洗方法,使用辅助硅片、蜡、uv蓝膜等多方面进行制造工艺的全面改进,可以生产出更薄的硅片,并且提高薄硅片的质量,加快生成速度,降低生产成本。
技术领域
本发明涉及硅片加工领域,更具体地说是指一种薄硅片的制作方法。
背景技术
集成电路芯片不断向高密度、高性能和轻薄短小方向发展,为满足IC封装要求,越来越多的薄芯片将会出现在封装中。此外薄芯片可以提高器件在散热、机械等方面的性能,降低功率器件的电阻。因此,薄硅片的地位越来越重要。虽然半导体器件中的硅片目前已经做得很薄,但依旧不能满足某些特殊使用的要求,比如后道加工完成再进行减薄工艺势必会影响产品质量以及成品率,因此,市场迫切需要一种能够加工出更薄硅基材的制造工艺,以保证后道加工的成品率。
发明内容
本发明提供的一种薄硅片的制作方法,其目的在于现有技术中存在的上述问题。
本发明采用的技术方案如下:
一种薄硅片的制作方法,包括以下步骤:(1)、用抛光机台对硅片的第一面进行抛光;(2)、在硅片的第一面贴上保护膜;(3)、对硅片的第二面进行研磨加工,使硅片减薄;(4)、清除硅片上的保护膜;(5)、用贴蜡机将硅片的第一面贴至辅助硅片上,形成复合硅片;(6)用抛光机台的精抛垫对复合硅片上硅片的第二面进行抛光清洗;(7)对硅片进行脱蜡处理。
进一步,所述步骤(1)中,使用双面抛光工艺进行抛光,且抛光机台的上、下盘分别使用细抛垫和粗抛垫,并用粗抛垫和细抛光垫依次加工硅片的第一面。
进一步,所述步骤(1)中,抛光机台所用的抛光液为添加有分散剂TX-10的硅溶胶抛光液。
更进一步,所述步骤(1)中,将将添加有分散剂TX-10的硅溶胶抛光液的PH值调高到11~12进行使用。
进一步,所述步骤(1)和步骤(2)之间还包括以下步骤:对硅片进行清洗和检验,即将从抛光机台取出的硅片先进入清水降温并清除大部分的抛光液;然后将硅片放入10%的乙酸溶液中,进行酸碱中和反应;待检验员进行检验时,将硅片放入0.5%的氢氟酸和1%乙酸混合液洗液中清洗,再使用纯水冲洗。
进一步,所述步骤(6)的抛洗清洗中,耗材主要为18兆纯水和10%浓度抛光液,去除研磨后细微的磨痕。
进一步,还包括步骤(8):对硅片进行清洗,即使用10%溶度盐酸、5%的双氧水混合溶液去除金属离子,再用超纯水清洗;使用5%的氨水,5%双氧水混合液去除有机物,再用超纯水清洗;使用10%氢氟酸,5%硝酸,5%冰醋酸混合液去除氧化层,再用超纯水清洗。
进一步,还包括步骤(9):对硅片进行烘干并包装,即将硅片放入离心甩干机进行甩干,再烘干;然后将硅片装盒并抽真空,再使用PE塑料袋通入氮气包装。
进一步,所述步骤(6)中,将抛光机台的抛光液使用温度控制在30°以内。
和现有的技术相比,本发明的优点在于:
本发明从抛光机台,抛光液,清洗方法,使用辅助硅片、蜡、uv蓝膜等多方面进行制造工艺的全面改进,可以生产出更薄的硅片,并且提高薄硅片的质量,加快生成速度,降低生产成本。
具体实施方式
下面说明本发明的具体实施方式。为了全面理解本发明,下面描述到许多细节,但对于本领域技术人员来说,无需这些细节也可实现本发明。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造