[发明专利]一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置

权利要求书

1.一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

将闪存芯片安装到测试架(1)中；

使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中；

将成功烧录RDT代码的闪存芯片连同测试架(1)一起插到高温箱中的供电接口上；

给SATA供电接口(15)通电，使得SATA芯片(13)的BOOT从闪存芯片中加载RDT代码到SATA芯片(13)的RAM中；

SATA芯片(13)加载完成后开始进入RDT脱机扫描流程；

SATA芯片(13)对闪存芯片进行扫描，找出闪存芯片中的坏块并生成坏块信息；

SATA芯片(13)通过分析坏块信息来计算出闪存芯片的颗粒品质并对闪存芯片颗粒品质等级进行划分；

SATA芯片(13)通过驱动提示单元(14)提示对应的闪存芯片颗粒品质等级。

2.根据权利要求1所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，其特征在于：

在烧录RDT代码到闪存芯片中之前，检测方法还包括在PC端上预先配置颗粒品质等级参数，颗粒品质等级参数用于划分闪存芯片颗粒品质等级；

使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中时，PC端将配置好的颗粒品质等级参数写入到闪存芯片中；

给SATA供电接口(15)通电后，SATA芯片(13)同时加载闪存芯片中的颗粒品质等级参数。

3.根据权利要求2所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，其特征在于：所述提示单元(14)为数码管显示器(141)，所述数码管显示器(141)为个位数显示，闪存芯片颗粒品质等级划分为1-9级。

4.根据权利要求2所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，其特征在于：在SATA芯片(13)通过分析坏块信息来计算出闪存芯片颗粒的品质并对闪存芯片颗粒进行品质等级划分之后，检测方法还包括SATA芯片(13)将闪存芯片颗粒品质等级保存到闪存芯片中。

5.一种闪存芯片可靠性检测的检测装置，其特征在于：包括：

测试架(1)，用于安装闪存芯片，并对闪存芯片进行RDT脱机扫描检测；

PC端，电连接于测试架(1)时，用于将RDT代码烧录到闪存芯片中；

高温箱，用于安装测试架(1)并对闪存芯片提供检测极限温度。

6.根据权利要求5所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测装置，其特征在于：所述测试架(1)包括PCB主板、至少一个设置于PCB主板上用于安装闪存芯片的检测座子(12)，检测座子(12)电连接有用于通过检测座子(12)检测扫描闪存芯片的SATA芯片(13)，所述SATA芯片(13)用于查找闪存芯片内的坏块，并生成坏块信息。

7.根据权利要求6所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测装置，其特征在于：所述测试架(1)还包括至少一个提示单元(14)，所述提示单元(14)与检测座子(12)一一对应设置，所述提示单元(14)电连接于SATA芯片(13)用于显示对应检测座子(12)内安装的闪存芯片颗粒品质等级。

8.根据权利要求7所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测装置，其特征在于：所述提示单元(14)包括数码管显示器(141)和电连接于数码管显示器(141)与SATA芯片(13)之间的驱动电路(142)，所述数码管显示器(141)为个位数显示。