[发明专利]一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置

说明书

本申请涉及一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置，属于固态存储检测技术领域，其包括以下步骤：将闪存芯片安装到测试架中；使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中；将成功烧录RDT代码的闪存芯片连同测试架一起插到高温箱中的供电接口上；给SATA供电接口通电，使得SATA芯片的BOOT从闪存芯片中加载RDT代码到SATA芯片的RAM中；SATA芯片加载完成后开始进入RDT脱机扫描流程；SATA芯片对闪存芯片进行扫描，找出闪存芯片中的坏块并生成坏块信息；SATA芯片通过分析坏块信息来计算出闪存芯片的颗粒品质并对闪存芯片颗粒品质等级进行划分；SATA芯片通过驱动提示单元提示对应的闪存芯片颗粒品质等级。本申请具有提高产品的生产效率的效果。

技术领域

本申请涉及固态存储检测技术领域，尤其是涉及一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置。

背景技术

闪存（Flash）又称快闪存储器，是一种电子式可消除程序化只读存储器的形式，允许在操作中被多次擦或写的存储器，并具有非易失性。在固态存储领域，以闪存作为存储介质的固定硬盘（SSD）在计算机存储设备中广泛使用，固态硬盘上闪存颗粒的好坏决定着固态硬盘的稳定性。

一个闪存芯片由两个或者多个die（又称chips）组成，一个die又可以分为多个Plane，而每一个Plane又包含多个Block，每个Block又分为多个Page，Die封装形成颗粒。因此一个Flash芯片内部通常包括若干个块（Block），由于受生产技术和工艺等因素的影响和限制，闪存芯片在出厂时可能有些“块”是不能正常使用的，这些不能使用的块称之为“坏块”；因此在以闪存芯片为存储介质的闪存存储器在出厂前，需要对闪存芯片中的各个“块”进行扫描检测，并记录闪存芯片中坏块的数量，扫描检测完成后将固件程序固化到固态硬盘中。

目前市场上的可靠性验证（RDT）测试架利用固态硬盘的控制芯片（SATAController芯片）和量产工具（MPTool）在PC主机上将RDT代码烧录到闪存芯片颗粒中，然后将测试架以及闪存芯片颗粒一起查到高温箱里面的供电接口进行RDT脱机扫描。通过测试架上的LED指示灯来简单地判断RDT脱机扫描是否已经完成（LED指示灯长亮则表示RDT扫描已经完成，LED指示灯闪烁或者出现快闪则表示RDT扫描没有完成）。然后对RDT扫描已经完成的颗粒所对应的测试架重新插到PC端，利用PC端的MPTool获取RDT脱机扫描后的数据才能了解到闪存芯片颗粒的品质等级分类。

现有的RDT脱机扫描技术由于没有PC端的参与，所以从半成品板或者市面上的RDT测试架中获取的信息非常有限，只能通过半成品或测试架上面的LED指示灯了解到RDT是否完成。在完成了RDT脱机扫描后的闪存芯片颗粒还必须将对应的测试架插入PC端后通过PC端的MPTool来读取数据后才能对闪存芯片颗粒品质进行等级划分归类。

针对相关技术，发明人认为目前的闪存可靠性验证操作流程非常繁琐，导致产线的生产效率低下。

发明内容

为了解决现有RDT测试架由于提供信息不足而需要连接PC端去获取详细信息的繁琐流程，提高产品的生产效率，本申请提供一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置。

第一方面，本申请提供一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，采用如下的技术方案：

一种闪存可靠性检测的检测方法，包括以下步骤：

将闪存芯片安装到测试架中；

使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中；

将成功烧录RDT代码的闪存芯片连同测试架一起插到高温箱中的供电接口上；

给SATA供电接口通电，使得SATA芯片的BOOT从闪存芯片中加载RDT代码到SATA芯片的RAM中；

SATA芯片加载完成后开始进入RDT脱机扫描流程；

SATA芯片对闪存芯片进行扫描，找出闪存芯片中的坏块并生成坏块信息；