[发明专利]一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法有效
申请号: | 202010809980.5 | 申请日: | 2020-08-13 |
公开(公告)号: | CN111962101B | 公开(公告)日: | 2023-01-20 |
发明(设计)人: | 邱仕麟;赵清杰;侯光辉;方斌;张延利;郭瑜;王鑫健;王俊青;代惠民;鲍萍 | 申请(专利权)人: | 中国铝业股份有限公司 |
主分类号: | C25C3/20 | 分类号: | C25C3/20 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 房德权 |
地址: | 100082 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电解质 温度 热度 测算 方法 | ||
1.一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述测算方法包括:
在工业现场,将安装有测温感应元件的测试探头插入到铝电解质熔体中的预定深度;
在获取铝电解质温度的过程中,所述测温感应元件实时采集温度数据,并将实时采集的温度数据发送至测试终端;
所述测试终端根据获取的实时温度数据,确定铝电解质温度,以及确定铝电解质温度时间点,具体包括:
所述测试终端获取的实时温度采集数据在进行数据堆栈的过程中,实时分析其温度数据的最高值,且在最高值出现后的延长预设时间内,该实时最高值为最大值,则可确定所述实时最高值为最高温度值,所述实时最高值即为铝电解质温度,所述实时最高值对应的时间点为铝电解质温度时间点;
根据确定的铝电解质温度时间点,倒推计算出在采集温度上升趋势中的铝电解质初晶温度以及过热度,具体包括:
从获取的电解质温度的时间点倒推计算,进行在采集温度上升趋势中相邻时刻的温度变化求导测算,找到从正值向负值变化的第一个转换点,所述转换点发生时间点所对应的温度区域数据再进行对比判断与均值计算,得出最终的电解质初晶温度值;
将得到的电解质温度减去初晶温度,即可确定铝电解质的过热度。
2.根据权利要求1所述的铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述测试探头的一端封闭,所述测试探头内部为中空设置,所述测试探头内填充有绝缘材料,所述测试探头内设置有多组测温感应元件,多组所述测温感应元件之间通过所述绝缘材料绝缘设置,所述测试探头内的多个所述测温感应元件独立工作。
3.根据权利要求1所述的铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述将安装有多个测温感应元件的测试探头插入到铝电解质熔体中预定深度,具体包括:
通过测试装置将安装有测温感应元件的测试探头插入到铝电解质熔体中预定深度,所述测试装置包括具有多个自由度的机械手臂,所述测试探头安装在所述机械手臂的一端。
4.根据权利要求3所述的铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述测试装置还包括升降机构,所述升降机构的输出端可沿竖向伸缩,所述机械手臂的另一端安装在所述升降机构的输出端上。
5.根据权利要求4所述的一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述测试装置还包括推车,所述升降机构以及所述测试终端均安装在所述推车上。
6.根据权利要求5所述的一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述推车上还设置有多个插孔,每个所述插孔内均对应放置有一个或多个所述测试探头。
7.根据权利要求5所述的一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述测试装置还包括打磨机构,所述打磨机构安装在所述推车上。
8.根据权利要求5所述的一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法,其特征在于,所述测试装置还包括所述测试终端,多组所述测温感应元件均独立和所述测试终端连接,所述测试终端设置在所述推车上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国铝业股份有限公司,未经中国铝业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010809980.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。