[发明专利]一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法

说明书

本发明涉及一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法。该测算方法包括：在工业现场，将安装有测温感应元件的测试探头插入到铝电解质熔体中的预定深度；在获取铝电解质温度的过程中，测温感应元件实时采集温度数据，并将实时采集的温度数据发送至测试终端；测试终端根据获取的实时温度数据，确定铝电解质温度，以及确定铝电解质温度时间点；根据确定的铝电解质温度时间点，倒推计算出在采集温度上升趋势中的铝电解质初晶温度以及过热度。通过本发明的测量装置能够在铝电解工业现场快速检测出电解槽的电解质温度、初晶温度和过热度，以利于现场实时测量及生产巡检工作。

技术领域

本发明属于温度测量技术领域，尤其涉及一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法。

背景技术

对于铝电解质生产而言，铝电解质熔体的温度、铝电解质的初晶温度和铝电解质熔体的过热度(铝电解质温度与铝电解质初晶温度之差)对铝电解质生产来说是非常重要的参数。

众所周知，铝电解质温度已经实现了快速测量，由于铝电解质生产过程中的高温、高腐蚀、高电流的特点，如何排除干扰、准确、快速地在测量电解质温度的同时，将铝电解质的初晶温度和过热度测定出来，仍是目前铝电解生产测量的技术难点。

在实现本发明的过程中，申请人发现现有技术中至少存在以下不足：

现有技术中，铝电解质初晶温度测试技术分为三种：

第一种为实验室化学分析方法，这类方法是利用电解质的化学成分，通过大量的分析数据建立的初晶温度经验公式来推算电解质的初晶温度，且不同的电解体系需要建立各自不同的推算公式，适用性非常局限，无法推广使用。同时，这类方法依赖于化学成分的测定，工作量大，测定时间长，成分分析误差大，无法满足现代化大生产要求。

第二种为取样之后到实验室测量，这类方式会因为人工取样、电解质重熔等因素造成初晶温度值的不准确性，而且取样时的当前槽电解质温度一般为现场普通K型热电偶采集取得的数据，更会造成双重误差，而且实验室离线分析滞后，无法实时体现出取样时的温度数据，对实际生产无法做到实时调控。

第三种为现场实时测量，这类方式主要采用的是步冷法，其取样方式大多为取样器取样，然后进行槽外降温测量，在降温中获取铝电解质初晶温度，但容易受现场环境的温度、空气流动、等因素的影响，形成的步冷曲线不容易控制，测试误差较大，且取样器由于内部清理极为不便，无法重复性使用。

因此，在铝工业现场如何快速而准确地测算出铝电解槽电解质温度、初晶温度以及过热度的值，对铝电解生产控制有较大意义。

发明内容

针对上述现有技术存在的问题，本发明提供一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法，以快速准确测定铝电解槽电解质熔体温度、初晶温度以及过热度。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的：

一种铝电解质温度、初晶温度及过热度的测算方法，所述测算方法包括：

在工业现场，将安装有测温感应元件的测试探头插入到铝电解质熔体中的预定深度，；

在获取铝电解质温度的过程中，所述测温感应元件实时采集温度数据，并将实时采集的温度数据发送至测试终端；

所述测试终端根据获取的实时温度数据，确定铝电解质温度，以及确定铝电解质温度时间点；

根据确定的铝电解质温度时间点，倒推计算出在采集温度上升趋势中的铝电解质初晶温度以及过热度。