[发明专利]一种轴向二极管的外观检测方法

权利要求书

1.一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、利用摄像头多角度的拍摄置于取像位置的二极管的照片；

S2、利用视觉或图像软件合成上述照片为360度的全景照片；

S3、根据全景照片的外观尺寸，识别二极管的本体尺寸是否符合要求；

S4、调节上述全景照片的R、G、B值，根据设定的黑白阈值识别瑕疵点的尺寸，并判定瑕疵点是否符合要求。

2.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述取像位置设有搭接二极管引脚的取像轨道，取像轨道前设有斜坡式滑轨。

3.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述步骤S1中的摄像头至少为３个，处于不同的位置。

4.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述摄像头由控制装置根据设于取像位置的感应器，反馈的二极管的感应信号驱动启闭。

5.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述步骤S3中的视觉或图像软件包括Vistech、photoshop。

6.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述步骤S4中的R、G、B值分别为0～255；黑白阈值为0～255。

7.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述步骤S3中的外观尺寸包括管体尺寸和引脚尺寸；

所述管体尺寸和引脚尺寸分别包括长度和宽度，

所述长度包括沿宽度方向的若干个长度值X_n及长度均值X，宽度包括沿长度方向的若干个宽度值Y_m及宽度均值Y。

8.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述本体尺寸是否符合要求的识别，包括以下步骤：

A1、沿宽度方向将长度n等份，设任一等份中的最长长度为X_n，长度基值为X₀；

A2、若△X_n= |X_n-X₀|≤P₁，|X-X₀|≤P₂，同时X_n＞X₀的数量小于a，则长度符合要求，P为长度允许误差值；

A3、沿长度方向将宽度m等份，设任一等份中的最长宽度为Y_m，宽度基值为Y₀；

A4、若△Y_m=|Y_m-Y₀|≤Q₁，|Y-Y₀|≤Q₂，同时Y_m＞Y₀的数量小于b,则宽度符合要求，Q为宽度允许误差值；

A5、长度和宽度均符合要求，则本体尺寸符合要求。

9.根据权利要求1所述的一种轴向二极管的外观检测方法，其特征在于，所述步骤S4中的瑕疵点的判定，包括以下步骤：

B1、识别各瑕疵点的最长宽度X_C，最长长度Y_C，瑕疵点面积S_C=X_C*Y_C，瑕疵点数量为C；

B2、若X_C＞D₁或Y_C＞D₂或S_C＞D₃，其中D₁为瑕疵宽度限值，D₂为瑕疵长度限值，D₃为瑕疵面积上限值，则不合格；

B3、若D₄＜S_C≤D₃的数量＞f，其中f 为中瑕疵数量的允许值，D₄为瑕疵面积下限值，则不合格；

B4、若S_C≤D₄的数量＞g，其中g为小瑕疵数量的允许值，则不合格；

B5、若f+g＞j，其中j为中小瑕疵总量的允许值，则不合格。