[发明专利]一种轴向二极管的外观检测方法

说明书

一种轴向二极管的外观检测方法，包括以下步骤：利用摄像头多角度的拍摄置于取像位置的二极管的照片；利用视觉或图像软件合成上述照片为360度的全景照片；根据全景照片的外观尺寸，识别二极管的本体尺寸是否符合要求；调节全景照片的R、G、B值，根据设定的黑白阈值识别瑕疵点的尺寸，并判定瑕疵点是否符合要求。本发明的外观检测方法，可以通过计算机视觉实现自动化的全面的产品外观检测，可有效替代传统的人工目测筛选，提升了检测效率，准确率高，保证外观品质，有效降低了检测成本，提高生产效率，具有很强的实用性和广泛的适用性。

技术领域

本发明涉及一种外观检测方法，具体涉及一种轴向二极管的外观检测方法，属于外观视觉检测技术领域。

背景技术

传统的轴向二极管生产工序中在TMTT后检查产品外观时仍采用人工目检的筛选方式，对封装过程中产生的引脚损伤，本体缺陷，电镀过程中造成的镀层异常以及Mark过程造成的印字不良等外观问题进行逐一检查筛选，费时费力而且存在不良逃逸风险。

发明内容

为解决现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种有效提升检测效率，准确率高的轴向二极管的外观检测方法。

为了实现上述目标，本发明采用如下的技术方案：

一种轴向二极管的外观检测方法，包括以下步骤：

S1、利用摄像头多角度的拍摄置于取像位置的二极管的照片；

S2、利用视觉或图像软件合成上述照片为360度的全景照片；

S3、根据全景照片的外观尺寸，识别二极管的本体尺寸是否符合要求；

S4、调节上述全景照片的R、G、B值，根据设定的黑白阈值识别瑕疵点的尺寸，并判定瑕疵点是否符合要求。

上述取像位置设有搭接二极管引脚的取像轨道，取像轨道前设有斜坡式滑轨。

上述步骤S1中的摄像头至少为３个，处于不同的位置。

上述摄像头由控制装置根据设于取像位置的感应器，反馈的二极管的感应信号驱动启闭。

上述步骤S3中的视觉或图像软件包括Vistech、photoshop。

上述步骤S4中的R、G、B值分别为0～255；黑白阈值为0～255。

上述步骤S3中的外观尺寸包括管体尺寸和引脚尺寸；

所述管体尺寸和引脚尺寸分别包括长度和宽度，

所述长度包括沿宽度方向的若干个长度值X_n及长度均值X，宽度包括沿长度方向的若干个宽度值Y_m及宽度均值Y。

上述本体尺寸是否符合要求的识别，包括以下步骤：

A1、沿宽度方向将长度n等份，设任一等份中的最长长度为X_n，长度基值为X₀；

A2、若△X_n= |X_n-X₀|≤P₁，|X-X₀|≤P₂，同时X_n＞X₀的数量小于a，则长度符合要求，P为长度允许误差值；

A3、沿长度方向将宽度m等份，设任一等份中的最长宽度为Y_m，宽度基值为Y₀；