[发明专利]光功率检测及参数标定方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种光功率检测方法，其特征在于，包括：

确定第一电流和第一温度；所述第一电流表征光电探测器的输出电流；所述第一温度表征所述光电探测器的工作温度；

根据所述第一温度和第一参数集，确定第二参数集；所述第二参数集中的参数表征所述第一温度对所述光电探测器的影响；所述第一参数集中的参数表征温度与所述第二参数集中的参数的参数值的对应关系；所述第二参数集中的参数包括热噪声因子；

根据所述第二参数集和所述第一电流，确定所述光电探测器的光功率检测结果。

2.根据权利要求1所述的光功率检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

从所述光电探测器的存储器中调用所述第一参数集。

3.一种参数标定方法，其特征在于，用于标定所述权利要求1或2所述的光功率检测方法中的所述第一参数集；所述方法包括：

基于至少两个第二温度中每个第二温度对应的至少两个第一光功率，确定对应的第二电流；其中，所述第一光功率表征光电探测器的输入光功率；所述第二电流表征工作在对应的第二温度下的所述光电探测器在输入对应的第一光功率时对应的输出电流；

基于确定出的第二电流和第一光功率，通过设定算法确定所述至少两个第二温度中每个第二温度对应的第三参数集；所述第三参数集中的参数表征对应的第二温度对所述光电探测器的影响；

基于所述至少两个第二温度中所有第二温度对应的第三参数集，对所有第三参数集中的每个参数进行拟合，确定所有第三参数集中的每个参数对应的拟合结果；将所有参数对应的拟合结果输出为所述第一参数集。

4.根据权利要求3所述的参数标定方法，其特征在于，所述基于确定出的第二电流和第一光功率，通过设定算法确定所述至少两个第二温度中每个第二温度对应的第三参数集，包括：

确定第二温度对应的第一参数；所述第一参数表征对应的第二温度对所述光电探测器的影响；

确定第二温度对应的第二参数和第三参数；所述第二参数表征所述第一参数对应的线性拟合斜率；所述第三参数表征所述第一参数对应的线性拟合截距。

5.根据权利要求3或4所述的参数标定方法，其特征在于，所述方法还包括：

在至少两个温度区间的每个温度区间中确定出一个第二温度；

其中，所述至少两个温度区间通过划分所述光电探测器允许的工作温度范围得到。

6.根据权利要求3或4所述的参数标定方法，其特征在于，所述方法还包括：

在至少两个光功率区间的每个光功率区间中确定出一个第一光功率；

其中，所述至少两个光功率区间通过划分所述光电探测器允许的工作光功率范围得到。

7.根据权利要求3所述的参数标定方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述第一参数集存储至所述光电探测器的存储器中。

8.一种光功率检测装置，其特征在于，包括：

第一确定单元，用于确定第一电流和第一温度；所述第一电流表征光电探测器的检测结果；所述第一温度表征所述光电探测器的工作温度；

第二确定单元，用于根据所述第一温度和第一参数集，确定第二参数集；所述第二参数集中的参数表征所述第一温度对所述光电探测器的影响；所述第一参数集中的参数表征所述第一温度的温度值与所述第二参数集中的参数的参数值的对应关系；所述第二参数集中的参数包括热噪声因子；

第三确定单元，用于根据所述第二参数集和所述第一电流，确定所述光电探测器的光功率检测结果。