[发明专利]光功率检测及参数标定方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种光功率检测及参数标定方法、装置、电子设备及存储介质，该光功率检测方法包括确定第一电流和第一温度；所述第一电流表征光电探测器的输出电流；所述第一温度表征所述光电探测器的工作温度；根据所述第一温度和第一参数集，确定第二参数集；所述第二参数集中的参数表征所述第一温度对所述光电探测器的影响；所述第一参数集中的参数表征温度与所述第二参数集中的参数的参数值的对应关系；根据所述第二参数集和所述第一电流，确定所述光电探测器的光功率检测结果。

技术领域

本申请属于涉及光通讯技术领域，尤其涉及一种光功率检测及参数标定方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

相关技术中，在光功率检测的各检测环节均可能引入热噪声，这些热噪声叠加到实际的光功率探测结果中，使获得的光功率探测结果不准确。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种光功率检测及参数标定方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决相关技术中光功率探测结果不准确的问题。

本申请实施例的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供了一种光功率检测方法，包括：

确定第一电流和第一温度；所述第一电流表征光电探测器的输出电流；所述第一温度表征所述光电探测器的工作温度；

根据第一温度和第一参数集，确定第二参数集；所述第二参数集中的参数表征第一温度对光电探测器的影响；所述第一参数集中的参数表征温度与第二参数集中的参数的参数值的对应关系；

根据第二参数集和第一电流，确定光电探测器的光功率检测结果。

其中，上述方案中，所述方法还包括：

从光电探测器的存储器中调用第一参数集。

本发明实施例提供了一种参数标定方法，用于标定光功率检测方法中的第一参数集；所述方法包括：

基于至少两个第二温度中每个第二温度对应的至少两个第一光功率，确定对应的第二电流；其中，所述第一光功率表征光电探测器的输入光功率；所述第二电流表征工作在对应的第二温度下的光电探测器在输入对应的第一光功率时对应的输出电流；

基于确定出的第二电流和第一光功率，通过设定算法确定至少两个第二温度中每个第二温度对应的第三参数集；所述第三参数集中的参数表征对应的第二温度对光电探测器的影响；

基于至少两个第二温度中所有第二温度对应的第三参数集，对所有第三参数集中的每个参数进行拟合，确定所有第三参数集中的每个参数对应的拟合结果；将所有参数对应的拟合结果输出为所述第一参数集。

其中，上述方案中，所述基于确定出的第二电流和第一光功率，通过设定算法确定所述至少两个第二温度中每个第二温度对应的第三参数集，包括：

确定第二温度对应的第一参数；所述第一参数表征对应的第二温度对光电探测器的影响；

确定第二温度对应的第二参数和第三参数；所述第二参数表征第一参数对应的线性拟合斜率；所述第三参数表征所述第一参数对应的线性拟合截距。

上述方案中，所述方法还包括：

在至少两个温度区间的每个温度区间中确定出一个第二温度；

其中，所述至少两个温度区间通过划分光电探测器允许的工作温度范围得到。

上述方案中，所述方法还包括：

在至少两个光功率区间的每个光功率区间中确定出一个第一光功率；

其中，所述至少两个光功率区间通过划分光电探测器允许的工作光功率范围得到。

上述方案中，所述方法还包括：