[发明专利]一种带参考通道的TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备

权利要求书

1.一种带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，包括：

对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，所述第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，所述第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；

在利用所述第一采样时钟在所述子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准；

若所述第一数量为一个，将一个所述子通道ADC作为复合子通道ADC，若所述第一数量为多个，将多个所述子通道ADC进行复合，得到所述复合子通道ADC；

在利用所述第二采样时钟在所述参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用所述复合子通道ADC对所述参考通道ADC的采样过程进行校准。

2.如权利要求1所述的带参考通道的TIADC互校准方法，其特征在于，还包括：

将所述参考通道ADC进行复合，得到复合参考通道ADC，对所述复合参考通道ADC和所述复合子通道ADC校准后输出。

3.如权利要求1所述的带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，根据所述系统采样时钟、第一整数以及第二整数确定所述第一数量和所述第二采样时钟，所述一整数和所述第二整数互质。

4.如权利要求1所述的带参考通道的TIADC互校准方法，其特征在于，所述第二采样时钟、所述第二数量的乘积与所述第一采样时钟和所述第一数量的乘积相等。

5.如权利要求1所述的带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，所述使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准过程中，若所述第二数量为一个，使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准，若所述第二数量为多个，根据多个所述参考通道ADC的采样顺序，使用第一个所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准。

6.如权利要求1所述的带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，使用第一时钟切换电路控制所述参考通道ADC对所模拟信号进行采样或者对所述子通道ADC的采样过程进行校准。

7.如权利要求1所述的带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，使用第二时钟切换电路控制所述复合子通道ADC对所述参考通道ADC的采样过程进行校准或者进行输出。

8.一种带参考通道TIADC互校准系统，其特征在于，包括：

分频电路，其对系统采样时钟进行分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，所述所述第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，所述第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；

子通道ADC采样模块，其利用所述第一采样时钟在所述子通道ADC中对模拟信号进行采样，以及使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准；

复合模块，若所述第一数量为一个，将所述子通道ADC作为复合子通道ADC，若所述第一数量为多个，将多个所述子通道ADC进行复合，得到所述复合子通道ADC；

参考通道ADC采样模块，其利用所述第二采样时钟在所述参考通道ADC对模拟信号进行采样，以及使用所述复合子通道ADC对所述参考通道ADC的采样过程进行校准。

9.一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，其中所述计算机指令被操作以执行权利要求1-7任一项所述的带参考通道TIADC互校准方法。

10.一种计算机设备，其包括处理器和存储器，所述存储器存储有计算机指令，其中，所述处理器操作所述计算机指令以执行权利要求1-7任一项所述的带参考通道TIADC互校准方法。