[发明专利]一种带参考通道的TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备

说明书

本申请公开了一种带参考通道的TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备，属于模拟数字转换技术领域。该带参考通道的TIADC互校准方法包括：对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；在利用第一采样时钟在子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用参考通道ADC对子通道ADC的采样过程进行校准；将子通道ADC的进行复合，得到复合子通道ADC；在利用第二采样时钟在参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用复合子通道ADC对参考通道ADC的采样过程进行校。本申请的应用使得参考通道进行误差估计外，也进行对模拟信号的采样，充分发挥参考通道作用。

技术领域

本申请涉及模拟数字转换技术领域，特别是一种带参考通道TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备。

背景技术

通信系统、雷达、图像/视频处理等现代电子系统需要高速、高精度的模数转换器。传统的单通道模数转换器要在保证高精度的同时实现高速度将面临物理上的限制，特别是随着深亚微米CMOS工艺向更低电源电压、更小特征尺寸方向发展将使采用传统结构的高精度、高速模数转换器的设计变得越发困难。时间交织模数转换器通过并行采集技术可以突破工艺因素带来的限制，使模数转换器的速度成倍的提高，但制造过程中工艺的偏差严重限制了TI模数转换器的系统精度。有研究表明，不论单通道模数转换器的精度如何，呈正态分布的标准差1％的通道间失配便会将多通道系统的精度限制在7bit以下。

在使用时间交织模数转换器TIADC对模拟信号进行采样时，因为采样通道间存在采样时间误差、增益误差等，因此需要对采样过程进行校准。现有的校准方法包括：使用交织模数转换器中的一个子通道ADC为基准，校准其他的子通道ADC时间误差，进而消除时间误差，该方法难以设计，且算法复杂；另外一种校准方法是设计以参考通道ADC，以参考通道ADC为基准，估算其他子通道ADC的时间误差，并进行消除。此种方法容易设计且算法简单，但参考通道ADC只起到误差估计的作用，当校准工作完成后，便不发挥作用，浪费参考通道ADC的性能以及参考通道ADC的占用面积无法有效的利用。

发明内容

针对现有技术中存在的上述技术问题，本申请提供一种带参考通道TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备。

在本申请的一个技术方案中，提供一种带参考通道的TIADC互校准方法，包括对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；在利用第一采样时钟在子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用参考通道ADC对子通道ADC的采样过程进行校准；若第一数量为一个，将一个子通道ADC作为复合子通道ADC，若第一数量为多个，将多个子通道ADC进行复合，得到复合子通道ADC；在利用第二采样时钟在参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用复合子通道ADC对参考通道ADC的采样过程进行校准。

在本申请的另一技术方案中，提供一种带参考通道的TIADC互校准系统，包括，分频电路，其对系统采样时钟进行分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；子通道ADC采样模块，其利用第一采样时钟在子通道ADC中对模拟信号进行采样，以及使用参考通道ADC对子通道ADC的采样过程进行校准；第一数据复合模块，若第一数量为一个，将子通道ADC作为复合子通道ADC，若第一数量为多个，将多个子通道ADC进行复合，得到复合子通道ADC；参考通道ADC采样模块，其利用第二采样时钟在参考通道ADC对模拟信号进行采样，以及使用复合子通道ADC对参考通道ADC的采样过程进行校准。

在本申请的另一技术方案中，提供一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，其中计算机指令被操作以执行方案一中的带参考通道TIADC互校准方法。