[发明专利]磁材倒角检测方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
申请号: | 202010836042.4 | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN111968092A | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 张发恩;刘强强 | 申请(专利权)人: | 创新奇智(上海)科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/66;G01B11/26 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蒋姗 |
地址: | 201900 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 倒角 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
本申请提供一种磁材倒角检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,方法包括:获取磁材图像的各弧边;依据各弧边,构建各弧边对应的拟合圆;获取各弧边对应的拟合圆的半径,各拟合圆的半径为各拟合圆对应的弧边的倒角尺寸。本申请方案可以通过电子设备实现,从而自动实现对于弧边的倒角尺寸的标定检测,相对于人工检测的方式而言,不受主观因素影响,检测精度更为准确,同时相对于人工检测方而言,效率也更高,成本更低,更具工业实用性。
技术领域
本申请涉及图像处理技术领域,具体而言,涉及一种磁材倒角检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。
背景技术
在稀土磁材产品中,有的产品没有“倒角”(标准的立方体形状),而有的产品在边界处有“倒角”。而通常,倒角的大小有一个范围,因此在进行磁材产品的检测时,需要对磁材的倒角大小进行检测。
目前,对于磁材“倒角”尺寸的检测大多都为人工检测。而人工检测方法是:将透明的塑料尺寸刻度尺与磁材进行重叠,观察待检测磁材的“倒角”与所设置的允许范围的“下界限”相比是否偏小,“倒角”与所设置的允许范围的“上界限”相比是否偏大。如果是,表示“不合格”料。这种检测方法会受检测人员主观因素的影响,当“倒角”在范围的临界处或接近于临界处时,该方法并不能精准的检测出倒角尺寸,可能出现将“合格品”判定为“不合格品”或者将“不合格品”判定为“合格品”的情况。除此外,人工的检测效率极低,且劳动强度大。例如,一个中型规模的稀土磁材制造商在“旺季”每天至少需要产出60万片,需要几百名工人进行质检,对于企业来说,这需要耗费很大的人力成本。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种磁材倒角检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,用以解决现有人工检测方式存在的检测精度低,检测效率低的问题。
本申请实施例提供了一种磁材倒角检测方法,包括:获取磁材图像的各弧边;依据各弧边,构建各弧边对应的拟合圆;获取各弧边对应的拟合圆的半径,各所述拟合圆的半径为各所述拟合圆对应的弧边的倒角尺寸。
在上述实现过程中,通过从磁材图像中获取到各弧边,进而以及各弧边构建对应的拟合圆,从而通过各拟合圆的半径来标识各弧边的倒角尺寸。这样,通过机器即可以实现对于弧边的倒角尺寸的标定检测,相对于人工检测的方式而言,不受主观因素影响,检测精度更为准确,同时相对于人工检测方而言,效率也更高,成本更低,更具工业实用性。
进一步地,所述依据各弧边,构建各弧边对应的拟合圆,包括:针对每个弧边,从所述弧边具有的各点中确定出用于进行拟合的有效点;对所述有效点进行拟合,得到所述弧边对应的拟合圆。
应当理解的是,在实际检测过程中,从磁材图像中获取到的弧边可以看作一系列密集的像素点的集合。由于弧边是大量像素点的集合,因此通常从图像中获取到的弧边,各像素点往往不会是全部都刚好分布在一个标准的弧形边上,通常各像素点通常会存在一定的位置分布波动。因此,从磁材图像中获取到的弧边中,可能存在有一些像素点较整体而言,更为离散。而这类型的像素点将严重影响对弧边的拟合效果,影响得到的拟合圆的可靠性。因此,在上述实现过程中,可以针对弧边首先确定出用于进行拟合的有效点,进而基于有效点进行拟合,以排除可能会影响拟合效果的哪些像素点,从而提高拟合效果,提高检测得到的倒角尺寸的可信度。
进一步地,从所述弧边具有的各点中确定出用于进行拟合的有效点,包括:从所述弧边中提取出三个点,得到经过这三个点的圆;获取所述弧边中各点到所述圆的边的距离;确定所述弧边的各点中,所述距离小于等于预设距离阈值的局内点的数量;根据所述局内点的数量确定所述圆是否为最佳圆;在所述圆为最佳圆时,所述局内点为所述有效点。
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