[发明专利]阵列基板、显示面板及配线断线的修复方法有效
申请号: | 202010838659.X | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN111880346B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 前昌弘;蒋雷;谢超;杨宇丹 | 申请(专利权)人: | 成都中电熊猫显示科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/1343;H01L27/32 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张娜;臧建明 |
地址: | 610200 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 显示 面板 断线 修复 方法 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括数据线、扫描线和存储电容线,所述数据线和所述扫描线纵横交错排布并限定出多个像素区域,每个所述像素区域内均设有像素电极,所述像素电极和所述存储电容线在所述阵列基板的厚度方向具有重叠部分,所述数据线或所述扫描线设置有修补线,所述修补线的两端连接在所述数据线或所述扫描线上的断裂区域的两侧,以使所述断裂区域两侧的所述数据线或所述扫描线通过所述修补线连接;所述像素电极的边缘设置有多个缺口,所述缺口沿所述存储电容线的宽度方向覆盖所述存储电容线,所述缺口沿所述存储电容线向所述像素区域凹陷;所述像素电极包括切割形成的保留区域,所述保留区域和所述修补线互不重叠,所述保留区域的分割线边缘的两端分别和两个所述缺口连通;
所述缺口的深度大于所述存储电容线的宽度,以使所述缺口沿所述存储电容线向所述像素区域凹陷;多个所述缺口分布在所述像素电极的周侧。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述修补线的两端均连接在同一所述像素区域内,所述保留区域的分隔边缘两端分别和两个位于所述像素区域同一侧的所述缺口连通;或者,
所述修补线跨越相邻两个所述像素区域,所述保留区域的分隔边缘的两端分别和两个位于所述像素区域的不同侧的所述缺口连通。
3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,多个所述缺口包括第一缺口、第二缺口、第三缺口和第四缺口;所述第一缺口设置在所述像素电极的背离薄膜晶体管的一侧的侧边上,所述第二缺口设置在所述像素电极的朝向所述薄膜晶体管的一侧的侧边上,所述第三缺口设置在所述像素电极的朝向所述修补线端部的一侧的侧边上,所述第四缺口设置在所述像素电极的背离所述修补线端部的一侧的侧边上。
4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述第一缺口为两个,且两个所述第一缺口分别设置在所述像素电极在所述扫描线长度方向的中点的两侧;所述第二缺口为一个,且设置在所述像素电极在所述扫描线长度方向的中点的一侧;所述第三缺口为三个,分别相对于所述像素电极在所述数据线长度方向的中点对称设置;所述第四缺口为一个,且设置在所述像素电极在所述数据线长度方向的中点。
5.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述修补线的两端均连接在同一所述像素区域内;
所述修补线的两端与所述数据线连接,所述保留区域的分隔边缘的两端分别和两个所述第三缺口连通,其中,所述第三缺口位于所述像素电极的朝向所述修补线端部的一侧的侧边上。
6.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述修补线跨越相邻两个所述像素区域,所述修补线的两端与所述扫描线连接;
所述保留区域的分隔边缘包括分别对应于两个相邻所述像素区域的第一间隔区域和第二间隔区域,所述第一间隔区域的两端分别和所述第三缺口以及所述第二缺口连通,所述第二间隔区域的两端分别和所述第三缺口以及所述第一缺口连通。
7.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述修补线跨越相邻两个所述像素区域,所述修补线的两端与所述数据线连接;
所述保留区域的分隔边缘包括分别对应于两个相邻所述像素区域的第三间隔区域和第四间隔区域,所述第三间隔区域和所述第四间隔区域的两端分别和所述第一缺口以及所述第三缺口连通,所述第三间隔区域和第四间隔区域所连通的所述第三缺口不同。
8.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述保留区域的分割线边缘轮廓与所述修补线构成的修复区域形状相互匹配。
9.一种显示面板,其特征在于,包括权利要求1-8任一项所述的阵列基板。
10.一种配线断线的修复方法,其特征在于,包括:
当配线发生断线时,在所述配线的断线区域的两侧连接修补线,以使所述配线的断线区域连通,其中,所述修补线经过像素电极,所述像素电极的边缘具有多个缺口,所述缺口沿存储电容线的宽度方向覆盖所述存储电容线;
以所述像素电极的两个不同所述缺口为分割线边缘的端点,切割所述像素电极,以使所述像素电极的保留区域和所述修补线之间互不重叠;
所述缺口的深度大于所述存储电容线的宽度,以使所述缺口沿所述存储电容线向像素区域凹陷;多个所述缺口分布在所述像素电极的周侧;
其中,所述配线包括数据线和扫描线,所述数据线和所述扫描线纵横交错排布并限定出多个所述像素区域。
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