[发明专利]一种陶瓷片高度检测方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种陶瓷片高度检测方法，其特征在于，包括：

获取相机采集到的激光条纹图像，该激光条纹图像中的每个点均具有三维坐标；

根据所述激光条纹图像上各个点的三维坐标生成待检陶瓷的三维点云模型，将所述三维点云模型分割为多个子模型，每个子模型对应一层陶瓷片；

根据所述多个子模型的中心坐标得到每层陶瓷片的高度值，判断所述高度值是否在高度区间内，得出待检陶瓷的检测结果。

2.根据权利要求1所述的一种陶瓷片高度检测方法，其特征在于，所述将所述三维点云模型分割为多个子模型之前，包括：

确定标准陶瓷中每层陶瓷片到底层的高度区间，将所述高度区间作为检测待检陶瓷是否符合生产标准的判断依据。

3.根据权利要求2所述的一种陶瓷片高度检测方法，其特征在于，所述将所述三维点云模型分割为多个子模型，每个子模型对应一层陶瓷片，包括：

以所述高度区间为基准，确定该高度区间所在的陶瓷片；

将该高度区间进行边界扩展，得到该层陶瓷片的分割区间；

将所述三维点云模型按所述分割区间进行分割，得到多个子模型，每个子模型对应各自高度区间所在的陶瓷片。

4.根据权利要求2所述的一种陶瓷片高度检测方法，其特征在于，所述将所述三维点云模型分割为多个子模型，每个子模型对应一层陶瓷片，还包括：

从所述激光条纹图像中确定任一层陶瓷片的部分图像区域；

从所述三维点云模型中分割出该部分图像区域的子模型；

对该子模型的中心坐标进行求解，得出该区域的高度值；

通过判断该部分图像区域的高度值是否在高度区间内，得出该部分图像区域的陶瓷片的检测结果。

5.根据权利要求1所述的一种陶瓷片高度检测方法，其特征在于，所述根据所述多个子模型的中心坐标得到每层陶瓷片的高度值，包括：

获取各个所述子模型的中心坐标，将所述中心坐标在z轴的坐标值作为所述子模型对应的陶瓷片的高度值。

6.根据权利要求1所述的一种陶瓷片高度检测方法，其特征在于，所述将所述三维点云模型分割为多个子模型之前，包括：

对所述三维点云模型进行去噪处理。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的陶瓷片高度检测方法的步骤。

8.一种陶瓷片高度检测装置，其特征在于，所述装置包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的陶瓷片高度检测方法。