[发明专利]一种SSD寿命预测方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种SSD寿命预测方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：获取目标SSD的磨损记录数据；对磨损记录数据进行统计处理，得到自指定磨损值至当前磨损值等额递增所对应的时长序列；其中，时长序列中的一个时长与一次等额递增对应；利用指数平滑模型延长时长序列，得到预测时长序列；利用预测时长序列预测目标SSD的剩余寿命。相较于直接对磨损值的进行线性预估，在该方法所提供的基于磨损值等额递增磨损值所对应的时长，能够更加准确地对剩余寿命进行预估，进一步可以避免SSD资源浪费，能够保障存储系统的正常运行。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，特别是涉及一种SSD寿命预测方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

SSD(Solid-state drive或Solid-state disk，固态硬盘或固态驱动器)有寿命限制，SSD的寿命可以用其存储介质NAND芯片的磨损度来表示。具体来说，SSD NAND芯片的P/ECycle次数(擦写次数)为一个定值，数据的写入操作会引发SSD擦写次数的增加，当SSD达到100％的磨损时，则认为该SSD不再可靠，寿命到达尽头，此时percentage used的值为100。

SSD的S.M.A.R.T.技术用来检测、分析和报告SSD的使用情况，其中的percentageused指标(磨损值)是SATA接口和PCIE接口SSD通用的一个指标，用来表征已经发生的擦写次数占总擦写次数的比例，公式为：

percentage used＝(已发生P/E)/(额定最大P/E)×100％

现有SSD寿命预测技术非常简单。当前SSD厂商比如Intel、HPE在计算SSD寿命时，均采用公式求平均值的方法来进行预估。具体原理为：

剩余寿命＝(1-percentage used)×Δ时间/(Δpercentage used)

该方法截取特定时间段内磨损的变化，直接使用线性公式方法计算。虽然该方法的预估方式简单，但是在实际应用中发现，其预估准确率并不高，当预估剩余寿命过小，会容易导致SSD资源浪费，而预估剩余寿命过大，又会影响系统性能。

综上所述，如何有效地准确预测SSD的剩余寿命等问题，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种SSD寿命预测方法、装置、设备及可读存储介质，能够准确预测SSD的剩余寿命。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种SSD寿命预测方法，包括：

获取目标SSD的磨损记录数据；

对所述磨损记录数据进行统计处理，得到自指定磨损值至当前磨损值等额递增所对应的时长序列；其中，所述时长序列中的一个时长与一次等额递增对应；

利用指数平滑模型延长所述时长序列，得到预测时长序列；

利用所述预测时长序列预测所述目标SSD的剩余寿命。

优选地，所述利用指数平滑模型延长所述时长序列，得到预测时长序列，包括：

利用所述时长序列对初始指数平滑模型进行训练，得到与所述时长序列匹配的目标指数平滑模型；

利用所述目标指数平滑模型，延长所述时长序列，得到所述预测时长序列。

优选地，所述利用所述时长序列对初始指数平滑模型进行训练，得到与所述时长序列匹配的目标指数平滑模型，包括：

输出所述时长序列至所述初始指数平滑模型中进行最大似然估计，得到与所述时长序列匹配的指数平滑参数；

利用所述指数平滑参数，得到所述目标指数平滑模型。