[发明专利]针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试方法和装置

权利要求书

1.一种针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

S1，调用数据寄存器，对存储芯片中各个逻辑地址对应的单元写入第一数据值，并对应读取所述第一数据值，以进行AF测试；

S2，按照所述存储芯片的地址递增顺序或者地址递减顺序，以3*3矩阵为间隔向矩阵中心对应的逻辑地址中写入第二数据值、读取所述第二数据值、再写入第三数据值，并实时进行动态耦合故障测试；

S3，遍历各个地址读取所述第三数据值，判断从各个地址对应的单元中读取的第三数据值与写入时的第三数据值是否一致，若是，则所述存储芯片无故障。

2.根据权利要求1所述的针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试方法，其特征在于，所述调用数据寄存器的步骤之前，包括：

遍历各个单元，确认存储芯片的所有单元对应的逻辑地址，以形成地址递增顺序和地址递减顺序。

3.根据权利要求1所述的针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试方法，其特征在于，所述按照存储芯片的地址递增顺序或者地址递减顺序，以3*3矩阵为间隔向矩阵中心对应的逻辑地址中写入第二数据值、读取所述第二数据值、再写入第三数据值，并实时进行动态耦合故障测试的步骤，包括：

实时检测所述写入第二数据值、读取所述第二数据值、再写入第三数据值的过程中是否造成周围地址的存储单元数据值的变化；

若是，则所述存储芯片存在动态耦合故障。

4.根据权利要求1所述的针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试方法，其特征在于，所述按照存储芯片的地址递增顺序或者地址递减顺序，以3*3矩阵为间隔向矩阵中心对应的逻辑地址中写入第二数据值、读取所述第二数据值、再写入第三数据值的步骤，包括：

实时检测所述写入第二数据值、读取所述第二数据值的过程中，判断各个单元所读取的数值与写入的数值是否一致；

若否，则所述存储芯片的对应单元存在固定故障。

5.根据权利要求1所述的针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试方法，其特征在于，所述按照存储芯片的地址递增顺序或者地址递减顺序，以3*3矩阵为间隔向矩阵中心对应的逻辑地址中写入第二数据值、读取所述第二数据值、再写入第三数据值的步骤，包括：

实时检测所述读取所述第二数据值、写入第三数据值的过程中，判断各个单元所读取的数值与写入的数值是否一致；

若是，则所述存储芯片的对应单元存在转换故障。

6.根据权利要求1所述的针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试方法，其特征在于，在所述步骤S3中，判定所述存储芯片无故障的步骤之后，还包括：

对所述第一数据值、第二数据值以及第三数据值均进行写反处理，并根据写反处理后的第一数据值、第二数据值以及第三数据值再循环一次S1～S3。

7.一种针对动态耦合故障模拟极端环境下的测试装置，其特征在于，包括：

第一读写单元，用于调用数据寄存器，对存储芯片中各个逻辑地址对应的单元写入第一数据值，并对应读取所述第一数据值，以进行AF测试；

第二读写单元，用于按照所述存储芯片的地址递增顺序或者地址递减顺序，以3*3矩阵为间隔向矩阵中心对应的逻辑地址中写入第二数据值、读取所述第二数据值、再写入第三数据值，并实时进行动态耦合故障测试；

第三读写单元，用于遍历各个地址读取所述第三数据值，判断从各个地址对应的单元中读取的第三数据值与写入时的第三数据值是否一致，若是，则所述存储芯片无故障。