[发明专利]显示面板的应力测试装置及应力测试方法

说明书

本发明提供了一种显示面板的应力测试装置及应力测试方法，所述应力测试装置用于测试所述显示面板在弯折状态下所受到的应力，所述显示面板包括弯折区，所述应力测试装置包括数据处理单元、以及至少一个与所述数据处理单元电连接的测试用薄膜晶体管，所述测试用薄膜晶体管设置于所述弯折区内，所述数据处理单元用于接收位于所述弯折区内的所述测试用薄膜晶体管的输出电流，并根据所述输出电流来计算所述显示面板在所述弯折区内所受的应力。

技术领域

本发明大体上涉及显示技术领域，并且更具体地涉及显示面板的应力测试装置及应力测试方法。

背景技术

有机电致发光二极体(Organic light emitting diode，OLED)是一种自主发光技术，它与液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)相比，具有响应速度快、对比度高、视角广、低功耗、可弯折、重量轻、厚度薄，构造简单，成本低等优势，因而被业内普遍看好。其中，有源矩阵有机电致发光二极体(Active-matrix organic light emitting diode，AMOLED)尤其受到重视，除了拥有自发光的特性以及鲜艳色彩的优点之外，它能够构建可折叠的显示面板也是一个重要特点。

然而，在这样可折叠的显示面板的开发中，会时常遇到显示面板的弯折区内出现亮度异常的问题。这是因为，显示面板在应力的作用下弯折，因而在该弯折区内的导电特性由于应力也会发生变化，从而导致显示面板的亮度异常。此外，在本技术领域中，目前还没有适合于测试显示面板在其弯折区内所承受的应力大小的方法，因而还不能很好地解决上述亮度异常的问题。

因此，期望的是，提供一种测量手段来测试显示面板在其弯折区内所承受的应力大小。

发明内容

鉴于上述内容，本发明的目的在于提供一种显示面板的应力测试装置及应力测试方法，通过测量显示面板中的有源层的导电特性变化所产生的电流大小，来计算显示面板在其弯折区内所受到的应力大小。

为实现上述目的及其它相关目的，本发明提供了一种显示面板的应力测试装置，用于测试所述显示面板在弯折状态下所受到的应力，所述显示面板包括弯折区，所述应力测试装置包括数据处理单元、以及至少一个与所述数据处理单元电连接的测试用薄膜晶体管，所述测试用薄膜晶体管设置于所述弯折区内，所述数据处理单元用于接收位于所述弯折区内的所述测试用薄膜晶体管的输出电流，并根据所述输出电流来计算所述显示面板在所述弯折区内所受的应力。

在一些实施例中，所述显示面板包括显示区和与所述显示区相邻的非显示区，所述显示面板包括衬底层，所述测试用薄膜晶体管设置于所述衬底层上且位于所述非显示区内；

所述测试用薄膜晶体管包括：

栅极金属层，设置于所述衬底层上，所述栅极金属层包括栅极和与所述栅极连接的栅极信号输入端；

有源层，设置于所述衬底层上；

栅极绝缘层，设置于所述衬底层上，所述栅极绝缘层设置于所述栅极金属层与所述有源层之间；

层间介质层，设置于所述衬底层、所述有源层和所述栅极金属层上；以及

源漏极层，设置于所述层间介质层上，包括源极、漏极、连接所述源极的信号输入端、以及连接所述漏极的电流收集端，所述有源层两端分别与所述源极和所述漏极连接，其中，所述电流收集端与所述数据处理单元连接。

在一些实施例中，所述显示面板包括至少一条位于所述弯折区内的弯折轴线，任一条所述弯折轴线处至少对应设有一所述测试用薄膜晶体管。

在一些实施例中，一条所述弯折轴线处对应设有一个所述测试用薄膜晶体管，所述测试用薄膜晶体管中的所述有源层以所述弯折轴线作为对称轴设置于所述衬底层上。