[发明专利]一种自动化IC测试的在线监测和分析方法

权利要求书

1.一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：对单颗芯片进行每个测试项的测试，生成测试数据；

S2：以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划划分为多个风险级别，不同级别对应相应的风险级别编码；

S3：测试数据与风险等级编码组合生成标识码；

S4：自动化测试时，设定样本数量N，当测试的芯片数量为N的整数倍时，计算当前的风险值并判断是否触发异常报警。

2.根据权利要求1所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步骤S1中，单颗芯片测试的步骤为：

S11：开逐个测试每个测试项；

S12：判断是否为最后一个测试项，如果是，则生成测试数据和标识码；如果不是则执行S11，继续进行测试。

3.根据权利要求1所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步骤S1中，对于每个测试项，若测得值在测试上限和下限之间，则判定为PASS，以“1”表示；若不介于测试上限和下限之间，则判定为FAIL，以“0”表示，所有测试项结果生成一组二进制数值，并将表征所有测试项结果的二进制数值转换为十六进制数。

4.根据权利要求3所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：针对测试中的关键项目，以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划从低到高划分为多个级别，不同级别对应相应的风险级别编码，且每个风险级别对应不同的风险因子；将生成的风险级别编码置于生成的十六进制数末位，从而生成测试结果的标识码。

5.根据权利要求4所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步骤S2中，风险值由风险级别出现的频次和风险因子进行表征，风险值等于每个级别出现频次与风险因子乘积之和，风险值计算方式如下：

RiskV＝T_A*R_A+T_B*R_B+…+T_J*R_J

式中，RiskV为风险值；

A，B，C，d…J为风险级别编码；

T_A，T_B，T_c…T_J为每个风险级别出现的频次；

R_A，R_B，R_c…R_J为风险因子。

6.根据权利要求1所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步骤S4中，自动化测试的步骤为：

S41：逐个测试每颗芯片；

S42：判断是否为最后一颗芯片，如果是，结束自动化测试；如果不是，继续执行步骤S43；

S43：判断芯片数是否为样本数量N的整数倍，如果是，则执行步骤S44；如果不是，则执行S41，继续进行测试；

S44：根据前N颗芯片的测试数据和标识码，判断是否触发异常预警，如果无异常，则执行S41，继续进行测试；如果有异常则触发异常预警。

7.根据权利要求1或6所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步骤S4中，设定触发预警阈值，当风险值累计达到阈值时，触发异常预警。

8.根据权利要求1或7所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：当测试异常发生后，相同或高度相似的标识码会频繁出现，预警后，通过查找异常发生后的标识码出现的时机，定位到异常发生点进行分析和判断。

9.根据权利要求1或6所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：测试异常预警后，判断异常原因，异常原因包括测试设备、配件和/或者耗材异常。