[发明专利]一种自动化IC测试的在线监测和分析方法

说明书

本发明公开一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，以标识码的方式表征测试的失效项及失效严重程度；实现多种场景下的风险预警；实现判断风险级别并选择处理方式；实现判断异常发生的时机。本发明对IC自动化测试实现在线监测和分析，能够在异常发生的萌芽阶段发现并及时采取处理措施。基于对异常的严重程度的判断，实现在生产过程中的质量规范，借助算法判断异常的起始位置，节约了异常发生后的处理时间，降低了误判的可能性。

技术领域

本发明属于芯片测试技术领域，具体涉及一种自动化IC测试的在线监测和分析方法。

背景技术

自动化IC测试是芯片生产的必要环节，也是流向应用前的最后一个环节，对于产品的质量把控至关重要，由于芯片的pin脚数量和功能愈发复杂，所需测试的项目数量和种类也越来越多现有的自动化IC测试系统通常基于整体良率判断是否发生异常，。当测试异常发生后，由于需要定位异常发生的节点，工程师往往需要解读大量测试数据，这可能导致耗时甚至误判。而对于异常发生前的预兆无法做出判断并及时采取措施，这可能导致测试过程中连续发生良品的误宰；异常发生后，异常处理人员在处理过程中需分析数据判断异常起始点，不仅耗时还存在误判的可能性。

发明内容

本发明解决的技术问题：对于自动化测试过程中存在的异常不能准确的预判和异常发生的时机不能准确定位。

技术方案：为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，包括以下步骤：

S1：对单颗芯片进行每个测试项的测试，生成测试数据；

S2：以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划划分为多个风险级别，不同级别对应相应的风险级别编码；

S3：测试数据与风险等级编码组合生成标识码；

S4：自动化测试时，设定样本数量N，当测试的芯片数量为N的整数倍时，计算当前的风险值并判断是否触发异常报警。

作为优选，步骤S1中，单颗芯片测试的步骤为：

S11：开逐个测试每个测试项；

S12：判断是否为最后一个测试项，如果是，则生成测试数据和标识码；如果不是则执行S11，继续进行测试。

作为优选，步骤S1中，对于每个测试项，若测得值在测试上限和下限之间，则判定为PASS，以“1”表示；若不介于测试上限和下限之间，则判定为FAIL，以“0”表示，所有测试项结果生成一组二进制数值，并将表征所有测试项结果的二进制数值转换为十六进制数。

作为优选，针对测试中的关键项目，以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划从低到高划分为多个级别，不同级别对应相应的风险级别编码，且每个风险级别对应不同的风险因子；将生成的风险级别编码置于生成的十六进制数末位，从而生成测试结果的标识码。

作为优选，步骤S2中，风险值由风险级别出现的频次和风险因子进行表征，风险值等于每个级别出现频次与风险因子乘积之和，风险值计算方式如下：

RiskV＝T_A*R_A+T_B*R_B+…+T_J*R_J

式中，RiskV为风险值；

A，B，C，d…J为风险级别编码；

T_A，T_B，T_C…T_J为每个风险级别出现的频次；

R_A，R_B，R_C…R_J为风险因子。