[发明专利]基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备

权利要求书

1.一种基于光热反射的温度测量方法，其特征在于，包括：

获取第一温度的待测件在第一波长下的第一探测值、以及在第二波长下的第二探测值，并根据所述第一探测值和所述第二探测值确定第一探测比；

获取第二温度的待测件在第一波长下的第三探测值、以及在第二波长下的第四探测值，并根据所述第三探测值和所述第四探测值确定第二探测比；

基于第一探测比和第二探测比确定第一求解系数，基于所述第一求解系数确定第二求解系数；

所述基于所述第一探测比和第二探测比确定第一求解系数，包括：

其中，B为第一求解系数，T₁为第一温度，T₂为第二温度，s(T₁)为第一探测比，s(T₂)为第二探测比；

所述基于所述第一求解系数确定第二求解系数，包括：

C＝lns(T₁)-BT₁

其中，C为第二求解系数，B为第一求解系数，s(T₁)为第一探测比，T₁为第一探测温度；

或者，所述基于所述第一求解系数确定第二求解系数，包括：

C＝lns(T₂)-BT₂

其中，C为第二求解系数，B为第一求解系数，s(T₂)为第二探测比，T₂为第二探测温度；

或者，所述基于所述第一求解系数确定第二求解系数，包括：

其中，C为第二求解系数，B为第一求解系数，s(T₁)为第一探测比，T₁为第一探测温度，s(T₂)为第二探测比，T₂为第二探测温度；

获取未知当前温度的待测件在第一波长下的第五探测值、以及在第二波长下的第六探测值，并根据所述第五探测值和所述第六探测值确定第三探测比，基于第一求解系数、第二求解系数以及第三探测比确定待测件的当前温度。

2.如权利要求1所述的基于光热反射的温度测量方法，其特征在于，所述基于第一求解系数、第二求解系数以及第三探测比确定待测件的当前温度，包括：

其中，T_x为待测件的当前温度，B为第一求解系数，C为第二求解系数，s(T_x)为第三探测比。

3.如权利要求1所述的基于光热反射的温度测量方法，其特征在于，所述获取第一温度的待测件在第一波长下的第一探测值、以及在第二波长下的第二探测值，并根据所述第一探测值和所述第二探测值确定第一探测比，包括：

S31：获取第一温度的待测件在第一波长下的第一探测值、以及在第二波长下的第二探测值，并根据所述第一探测值和所述第二探测值确定第一探测比；

S32：重复N次执行步骤S31，得到多个第一探测比，将所述多个第一探测比的均值作为最终的第一探测比。