[发明专利]基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备

说明书

本发明提供了一种基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备，该方法包括：获取第一温度的待测件在第一波长下的第一探测值、以及在第二波长下的第二探测值，确定第一探测比；获取第二温度的待测件在第一波长下的第三探测值、以及在第二波长下的第四探测值，确定第二探测比；基于第一探测比和第二探测比确定第一求解系数，基于第一求解系数确定第二求解系数；获取未知当前温度的待测件在第一波长下的第五探测值、以及在第二波长下的第六探测值，确定第三探测比，基于第一求解系数、第二求解系数以及第三探测比确定待测件的当前温度。本发明提供的基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备能够提高温度测量精度。

技术领域

本发明属于热成像技术领域，更具体地说，是涉及一种基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备。

背景技术

光热反射测温技术作为一种非接触测温技术，因其快捷简便得到了广泛应用。目前，基于光热反射的测温流程主要包括三个步骤：探测波长确定、光热反射系数校准、温度测量。其中，在光热反射系数校准、温度测量等过程中会因光源强度漂移和探测器响应漂移导致测量结果不够准确，因此，如何提高测量准确度成为本领域技术人员亟待解决的问题。

现有技术中，提高测量精度的方法通常为对被测件的温度和/或光源施加调制，在信号处理时进行解调，以改善信噪比，提高测温准确度。此方法可以在一定程度上提高测温准确度，但其在测温过程中需要重复执行调制和解调过程，不够便捷。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备，以在不对被测件的温度和/或光源施加调制的前提下，提高测量精度。

本发明实施例的第一方面，提供了一种基于光热反射的温度测量方法，包括：

获取第一温度的待测件在第一波长下的第一探测值、以及在第二波长下的第二探测值，并根据所述第一探测值和所述第二探测值确定第一探测比；

获取第二温度的待测件在第一波长下的第三探测值、以及在第二波长下的第四探测值，并根据所述第三探测值和所述第四探测值确定第二探测比；

基于第一探测比和第二探测比确定第一求解系数，基于所述第一求解系数确定第二求解系数；

获取未知当前温度的待测件在第一波长下的第五探测值、以及在第二波长下的第六探测值，并根据所述第五探测值和所述第六探测值确定第三探测比，基于第一求解系数、第二求解系数以及第三探测比确定待测件的当前温度。

本发明实施例的第二方面，提供了一种基于光热反射的温度测量装置，包括：

系数求解模块，用于获取第一温度的待测件在第一波长下的第一探测值、以及在第二波长下的第二探测值，并根据所述第一探测值和所述第二探测值确定第一探测比；获取第二温度的待测件在第一波长下的第三探测值、以及在第二波长下的第四探测值，并根据所述第三探测值和所述第四探测值确定第二探测比；基于第一探测比和第二探测比确定第一求解系数，基于所述第一求解系数确定第二求解系数；

温度测量模块，用于获取未知当前温度的待测件在第一波长下的第五探测值、以及在第二波长下的第六探测值，并根据所述第五探测值和所述第六探测值确定第三探测比，基于第一求解系数、第二求解系数以及第三探测比确定待测件的当前温度。

本发明实施例的第三方面，提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的基于光热反射的温度测量方法的步骤。

本发明实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的基于光热反射的温度测量方法的步骤。

本发明实施例提供的基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备的有益效果在于：