[发明专利]电机绕组的劣化度检测方法、装置、检测设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 202010852069.2 申请日: 2020-08-21
公开(公告)号: CN112067992B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 尤昕宇;丁颖;焦杨;王洪昆;王文刚;边志宏;王蒙;王萌;马瑞峰 申请(专利权)人: 神华铁路装备有限责任公司
主分类号: G01R31/34 分类号: G01R31/34;G01R31/00;G01R23/16
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 郑小粤
地址: 100011 北京市东*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电机 绕组 劣化度 检测 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种电机绕组的劣化度检测方法,其特征在于,包括步骤:

获取待测电机绕组在各预设测试频率下的LCR参数;

根据各所述LCR参数以及对应的预设测试频率,生成频谱特性曲线;

提取所述频谱特性曲线中预设频段的曲线,并根据所述预设频段的曲线获取最大参数值;

处理所述最大参数值以及预设参考值,得到所述待测电机绕组的劣化度;

所述提取所述频谱特性曲线中预设频段的曲线,并根据所述预设频段的曲线获取最大参数值包括:根据各频谱特性曲线,获取包含特征信息最多的特定频谱特性曲线,提取所述特定频谱特性曲线中的预设频段的曲线,并根据预设频段的曲线获取最大参数值。

2.根据权利要求1所述的电机绕组的劣化度检测方法,其特征在于,还包括步骤:

获取新机在各所述预设测试频率下的空白LCR参数;

根据各所述空白LCR参数以及对应的预设测试频率,生成空白频谱特性曲线;

提取所述空白频谱特性曲线中所述预设频段的空白曲线,并根据所述空白曲线获取所述预设参考值。

3.根据权利要求1所述的电机绕组的劣化度检测方法,其特征在于,获取待测电机绕组在各预设测试频率下的LCR参数的步骤包括:

向LCR测量仪输出指令;所述指令用于指示所述LCR测量仪根据各所述预设测试频率设置输出频率,并在设置完成后分别获取各所述预设测试频率对应的所述LCR参数。

4.根据权利要求1所述的电机绕组的劣化度检测方法,其特征在于,处理所述最大参数值以及预设参考值,得到所述待测电机绕组的劣化度的步骤中,基于以下公式得到所述劣化度:

其中DD为所述劣化度;Zmax为所述最大参数值;Z0max为所述预设参考值。

5.根据权利要求1所述的电机绕组的劣化度检测方法,其特征在于,所述LCR参数包括以下参数的任意一种或任意组合:电感、电容、电阻、相角、损耗和阻抗。

6.根据权利要求1所述的电机绕组的劣化度检测方法,各预设测试频率落入20Hz至10MHz的区间内。

7.一种电机绕组的劣化度检测装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于获取待测电机绕组在各预设测试频率下的LCR参数;

曲线生成模块,用于根据各所述LCR参数以及对应的预设测试频率,生成频谱特性曲线;

提取模块,用于提取所述频谱特性曲线中预设频段的曲线,并根据所述预设频段的曲线获取最大参数值;

劣化度生成模块,用于处理所述最大参数值以及预设参考值,得到所述待测电机绕组的劣化度;

所述提取模块具体用于根据各频谱特性曲线,获取包含特征信息最多的特定频谱特性曲线,提取所述特定频谱特性曲线中的预设频段的曲线,并根据预设频段的曲线获取最大参数值。

8.一种电机绕组的劣化度检测设备,其特征在于,包括用于检测待测电机绕组的LCR测量仪、处理器和存储器;所述存储器存储有计算机程序;所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述方法的步骤。

9.根据权利要求8所述的电机绕组的劣化度检测设备,其特征在于,还包括用于容纳待测电机绕组的试验箱、用于检测所述试验箱内部温度的温度传感器和用于检测所述试验箱内部湿度的湿度传感器。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

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