[发明专利]一种测试性评估仿真模型的构建方法及装置

权利要求书

1.一种测试性评估仿真模型的构建方法，其特征在于，包括：

根据待测试产品的属性信息，建立用于表示所述待测试产品的功能属性、电应力属性、容差属性和故障属性的第一模型；

利用所述第一模型对所述待测试产品进行故障模拟分析，获得模拟分析数据；

根据所述模拟分析数据，判断所述待测试产品的BIT电路是否能识别模拟故障；

若所述BIT电路能识别所述模拟故障，则对所述BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据；

根据所述有效性分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据包括：

根据所述BIT电路的属性信息，建立用于表示所述BIT电路功能属性的第二模型；

利用所述第二模型对所述BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述有效性分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计包括：

根据所述有效性分析数据，判断所述BIT电路是否满足预设的设计条件；

若所述BIT电路满足预设的设计条件，则根据所述有效性分析数据获得灵敏度参数；

根据所述灵敏度参数，对所述BIT电路进行电路优化设计。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述灵敏度参数，对所述BIT电路进行电路优化设计包括：

根据所述灵敏度参数对所述BIT电路进行灵敏度分析，获得灵敏度分析数据；

根据所述灵敏度分析数据，确定最坏参数组合；

根据所述最坏参数组合对所述BIT电路进行最坏情况分析，获得最坏情况下的电路性能的电应力分析数据；

根据所述电应力分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：利用所述第二模型对所述BIT电路进行瞬态时域分析，获得参数额定值下的电路性能数据；对应的，所述根据所述电应力分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计包括：

根据所述电应力分析数据和所述电路性能数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：利用所述第二模型对所述BIT电路进行蒙特卡洛分析，获得统计数据；

对应的，所述根据所述电应力分析数据和所述电路性能数据，对所述BIT电路进行电路优化设计包括：

根据所述电应力分析数据、所述电路性能数据和所述统计数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一模型对所述待测试产品进行故障模拟分析，获得模拟分析数据包括：

确定进行故障模拟分析的故障模式，并建立故障仿真测试模型；

利用所述故障仿真测试模型对所述模拟故障进行故障电路仿真，获得模拟分析数据。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述故障电路仿真包括稳态仿真、瞬态仿真和频域仿真。

9.一种测试性评估仿真模型的构建装置，其特征在于，包括：

模型构建模块，用于根据待测试产品的属性信息，建立用于表示所述待测试产品的功能属性、电应力属性、容差属性和故障属性的第一模型；

故障分析模块，用于利用所述第一模型对所述待测试产品进行故障模拟分析，获得模拟分析数据；

判断模块，用于根据所述模拟分析数据，判断所述待测试产品的BIT电路是否能识别模拟故障；

容差有效性分析模块，用于若所述BIT电路能识别所述模拟故障，则对所述BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据；

优化设计模块，用于根据所述有效性分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述优化设计模块包括：

条件判断单元，用于根据所述有效性分析数据，判断所述BIT电路是否满足预设的设计条件；

参数获取单元，用于若所述BIT电路满足预设的设计条件，则根据所述有效性分析数据获得灵敏度参数；

灵敏度分析单元，用于根据所述灵敏度参数，对所述BIT电路进行电路优化设计。