[发明专利]一种测试性评估仿真模型的构建方法及装置

说明书

本申请提供一种测试性评估仿真模型的构建方法及装置，首先根据待测试产品的属性信息，建立用于表示待测试产品的功能属性、电应力属性、容差属性和故障属性的第一模型；然后利用第一模型对待测试产品进行故障模拟分析，获得模拟分析数据；再根据模拟分析数据，判断待测试产品的BIT电路是否能识别模拟故障，若BIT电路能识别模拟故障，则对BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据；最终根据有效性分析数据，对BIT电路进行电路优化设计。本申请可实现真实客观、有效地评价待测试产品的实际测试性设计水平。

技术领域

本申请实施例涉及电子产品设计技术领域，尤其涉及一种测试性评估仿真模型构建方法及装置。

背景技术

测试性是产品能及时准确地确定其状态并隔离其内部故障的一种设计特性。随着电子技术的不断发展和广泛应用，各类产品在技术、结构与功能上都日趋复杂，系统集成度急剧增加，导致产品设计完成后系统测试性设计也越来越复杂。目前较为通用的是采用实物产品进行技术测试，由于产品的高复杂程度和高价值，使得采用实物产品进行测试评估会面临成本高、风险大、周期长的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例所解决的技术问题之一在于提供一种测试性评估仿真模型构建方法，用以克服现有技术中产品测试存在成本高、风险大和测试周期较长的问题。

本申请实施例提供一种测试性评估仿真模型构建方法，包括：根据待测试产品的属性信息，建立用于表示所述待测试产品的功能属性、电应力属性、容差属性和故障属性的第一模型；

利用所述第一模型对所述待测试产品进行故障模拟分析，获得模拟分析数据；

根据所述模拟分析数据，判断所述待测试产品的BIT电路是否能识别模拟故障；

若所述BIT电路能识别所述模拟故障，则对所述BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据；

根据所述有效性分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

可选地，所述对所述BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据包括：

根据所述BIT电路的属性信息，建立用于表示所述BIT电路功能属性的第二模型；

利用所述第二模型对所述BIT电路进行容差有效性分析，获得有效性分析数据。

可选地，所述根据所述有效性分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计包括：

根据所述有效性分析数据，判断所述BIT电路是否满足预设的设计条件；

若所述BIT电路满足预设的设计条件，则根据所述有效性分析数据获得灵敏度参数；

根据所述灵敏度参数，对所述BIT电路进行电路优化设计。

可选地，所述根据所述灵敏度参数，对所述BIT电路进行电路优化设计包括：根据所述灵敏度参数对所述BIT电路进行灵敏度分析，获得灵敏度分析数据；

根据所述灵敏度分析数据，确定最坏参数组合；

根据所述最坏参数组合对所述BIT电路进行最坏情况分析，获得最坏情况下的电路性能的电应力分析数据；

根据所述电应力分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

可选地，所述方法还包括：利用所述第二模型对所述BIT电路进行瞬态时域分析，获得参数额定值下的电路性能数据；对应的，所述根据所述电应力分析数据，对所述BIT电路进行电路优化设计包括：

根据所述电应力分析数据和所述电路性能数据，对所述BIT电路进行电路优化设计。

可选地，所述方法还包括：利用所述第二模型对所述BIT电路进行蒙特卡洛分析，获得统计数据；