[发明专利]一种环境试验测试系统在审

专利信息
申请号: 202010858654.3 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN112230691A 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 江红;郑朝晖;倪卫华 申请(专利权)人: 上海季丰电子股份有限公司
主分类号: G05D23/20 分类号: G05D23/20
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴轶淳
地址: 200120 上海市浦东新区中国(上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 环境 试验 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种环境试验测试系统,其特征在于,所述环境试验测试系统包括:

环境试验箱,用于提供一试验测试环境;

第一控制模块,设置于所述环境试验箱的外部,用于根据接收到的外部测试指令生成相应的测试指令;

第二控制模块,设置于所述环境试验箱的内部并连接所述第一控制模块,用于根据所述测试指令,生成至少一测试信号,所述测试信号中包括温度控制参数;

测试模块,设置于所述环境试验箱的内部并连接所述第二控制模块,包括至少一待测试芯片,用于根据所述测试信号对所述待测试芯片进行测试,每个所述待测试芯片对应一所述测试信号;

所述测试模块还用于返回一测试结果;

温度调节模块,设置于所述环境试验箱的内部并连接所述第二控制模块,根据所述温度控制参数进行温度控制。

2.如权利要求1所述的环境试验测试系统,其特征在于,所述环境试验箱提供一恒温试验测试环境。

3.如权利要求1所述的环境试验测试系统,其特征在于,所述第二控制模块和测试模块集成设置于一设置于所述环境试验箱的内部的老化板上。

4.如权利要求1所述的环境试验测试系统,其特征在于,所述第二控制模块还用于接收所述测试结果,并将所述测试结果返回至所述第一控制模块。

5.如权利要求1所述的环境试验测试系统,其特征在于,所述测试模块还连接所述第一控制模块;

所述测试模块将所述测试结果直接返回所述第一控制模块。

6.如权利要求4或5所述的环境试验测试系统,其特征在于,所述第一控制模块包括一存储子单元,用于存储所述测试结果。

7.如权利要求1所述的环境试验测试系统,其特征在于,所述温度调节模块为半导体制冷器。

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