[发明专利]一种环境试验测试系统在审
申请号: | 202010858654.3 | 申请日: | 2020-08-24 |
公开(公告)号: | CN112230691A | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 江红;郑朝晖;倪卫华 | 申请(专利权)人: | 上海季丰电子股份有限公司 |
主分类号: | G05D23/20 | 分类号: | G05D23/20 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 吴轶淳 |
地址: | 200120 上海市浦东新区中国(上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 环境 试验 测试 系统 | ||
本技术方案公开了一种环境试验测试系统,包括环境试验箱、第一控制模块、第二控制模块、测试模块和温度调节模块。通过本技术方案将产生测试信号的控制模块放在环境试验箱内,同时采用独立温控的方式,能够提高控制模块的可靠性,简化了系统设计,具有广泛的适用性和可推广性。
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域,尤其涉及一种环境试验测试系统。
背景技术、
当前,多数老化设备采用的均是由环境试验箱外的控制计算机和驱动板提供测试信号,老化板放在环境试验箱内的传统设计,而由于老化试验需要的信号众多,为了同时连接几块老化板,接口往往需要设置得极为复杂;进一步的,当待测芯片数量较多,测试信号也较多时,需要的测试接口体积大,需要从环境试验箱的箱体穿过,此时箱体如何开槽、保温,都是需要精心设计的;而箱体开槽区域大,能量耗散多,为了在保障环境试验箱内外的信号连接的同时减少箱体内外的热量交换,箱体的结构往往还需要复杂的设计。
此外,对于将测试信号生成装置内置于环境试验箱内的设计尝试,由于老化温度往往高于控制模块的正常工作温度,进而导致控制模块失效的概率大大提升。因此亟需新提出一种环境试验测试系统来解决上述技术问题。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题,现提供一种环境试验测试系统,具体技术方案如下所示:
一种环境试验测试系统,包括:
环境试验箱,用于提供一试验测试环境;
第一控制模块,设置于环境试验箱的外部,用于根据接收到的外部测试指令生成相应的测试指令;
第二控制模块,设置于环境试验箱的内部并连接第一控制模块,用于根据测试指令,生成至少一测试信号,测试信号中包括温度控制参数;
测试模块,设置于环境试验箱的内部并连接第二控制模块,包括至少一待测试芯片,用于根据测试信号对待测试芯片进行测试,每个待测试芯片对应一测试信号;
测试模块还用于返回一测试结果;
温度调节模块,设置于环境试验箱的内部并连接第二控制模块,根据温度控制参数进行温度控制。
优选的,该种环境试验测试系统,其中环境试验箱提供一恒温试验测试环境。
优选的,该种环境试验测试系统,其中第二控制模块和测试模块集成设置于一设置于环境试验箱的内部的老化板上。
优选的,该种环境试验测试系统,其中第二控制模块还用于接收测试结果,并将测试结果返回至第一控制模块。
优选的,该种环境试验测试系统,其中测试模块还连接第一控制模块;
测试模块将测试结果直接返回第一控制模块。
优选的,该种环境试验测试系统,其中第一控制模块包括一存储子单元,用于存储测试结果。
优选的,该种环境试验测试系统,其中温度调节模块为半导体制冷器。
本技术方案具有如下优点或有益效果:
通过本技术方案将产生测试信号的控制模块放在环境试验箱内,同时采用独立温控的方式,能够提高控制模块的可靠性,简化了系统设计,具有广泛的适用性和可推广性
附图说明
图1为本发明一种环境试验测试系统的结构示意图。
具体实施方式
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