[发明专利]自校准去扭斜设备

说明书

一种去扭斜设备(100)包括：第一和第二去扭斜探测点(110和120)，所述去扭斜探测点用于在去扭斜校准期间分别接触第一和第二探针(115和125)；信号发生电路(130)，所述信号发生电路用于生成被提供给所述第一和第二去扭斜探测点(110和120)的校准信号；和反馈回路，所述反馈回路用于自动地自校准所述去扭斜设备(100)。

背景技术

去扭斜设备是一种电路，所述电路可连接到信号探针(诸如电流和电压探针)以消除分别由各信号探针提供的各信号之间的时序差(扭斜)。例如，扭斜可能是实际信号与采集信号之间的上升沿的时序延迟，由于信号探针的内部电路，所述时序延迟会导致失真和测量不准确。扭斜可能是由信令探针之间的制造、设计和/或架构差异而引起的。

为了获得准确的测量结果(诸如功率测量结果)，必须在校准期间使用去扭斜设备对探针(例如，电流探针和电压探针)进行去扭斜。常规的去扭斜设备(诸如购自KeysightTechnologies的U1880A功率测量结果去扭斜设备)使得用户能够在与电压和电流探针紧密物理接近时对同一信号进行双重探测，以便测量并消除两个探针通道之间和/或与探针连接的两个测试仪器通道或输入(例如，示波器通道)之间的任何扭斜。然而，优选地使用同时连接的电压和电流探针来同时测量电压和电流。在这种情况下，去扭斜设备不会为电压和电流探针两者使用同一探测点位置(电气长度)，并且不会提供校准探测点之间固有扭斜的方式。因此，对探针进行去扭斜对于对时序敏感的应用(诸如功率测量)非常重要。功率测量的准确度在很大程度上取决于电压探针与电流探针之间的去扭斜的准确度。

通常，常规的去扭斜设备使用一种电气信号，所述电气信号可以由两个探针探测。当在去扭斜设备上生成信号时，信号生成受到限制，并且通常不能充分适应具有不同带宽和输入电平的探针。而且，没有控制信号的参数，诸如波形和振幅。例如，对于U1880A功率测量去扭斜设备，所述信号由555时钟IC生成，所述时钟IC产生一种类型的方波(频率和振幅)。可能难以使用一种波形类型来对固有地具有不同带宽的探针进行去扭斜。相比之下，当信号在去扭斜设备外部生成时，用户可能不知道所产生的信号类型，并且可能没有设备来生成适当的信号。例如，外部信号发生器可能具有足够的带宽，但是可能会输出不足的电流。

另外，常规的去扭斜设备不能生成足够的电流电平，因此可包括多个绕组以增加有效电流。绕组会引入电感，这可能会导致不必要的相移，从而使输出驱动器更难以保持线性。

附图说明

在结合附图阅读时根据以下详述最佳地理解示例性实施方案。应强调，各种特征不一定按比例绘制。事实上，为了讨论的清晰性，尺寸可以任意增大或减小。在适用和可行的情况下，相同的附图标记是指相同元件。

图1是根据代表性实施方案的具有自校准功能的去扭斜设备的简化框图。

图2是根据代表性实施方案的具有自校准功能的去扭斜设备的简化框图。

图3是根据代表性实施方案的具有自校准功能的去扭斜设备的去扭斜方法的简化流程图。

具体实施方式

本发明包括以下实施方案：

1.一种用于改善由用于测量被测装置(DUT)的电气参数的测试仪器对第一探针和第二探针执行的去扭斜校准的准确度的去扭斜设备，所述去扭斜设备包括：

第一去扭斜探测点，所述第一去扭斜探测点被配置为在与所述第一探针接触时接收第一校准信号；

第二去扭斜探测点，所述第二去扭斜探测点被配置为在与所述第二探针接触时接收第二校准信号；以及

用于自动地自校准所述去扭斜设备的反馈回路，所述反馈回路包括：

第一模数转换器(ADC)，所述第一模数转换器被配置为对所述第一去扭斜探测点处的所述第一校准信号进行数字化以提供第一数字化校准信号；