[发明专利]一种硬盘测试设备和服务器

权利要求书

1.一种硬盘测试设备，其特征在于，包括：

控温密封测试盒，具有容纳待测硬盘用的腔体，并配置为在所述腔体内为所述待测硬盘提供确定的温度环境；

密封测试盒控制器，连接到所述控温密封测试盒以调控所述待测硬盘的所述温度环境，并且还在所述待测硬盘读写时采集所述腔体中的温度变化数据；

存储卡，连接到所述控温密封测试盒中的所述待测硬盘以向所述待测硬盘施加读写压力。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控温密封测试盒的所述腔体包括：

进气孔，设置在所述腔体的侧壁上；

出气孔，设置在所述腔体与所述进气孔相对的侧壁上；

电热器，设置在所述腔体内部靠近所述进气孔的位置，用于将流入所述控温密封测试盒的气体加热到确定的温度；

抽风扇，设置在所述腔体内部靠近所述出气孔的位置，用于将所述腔体中的气体通过所述出气孔排出；

多个温度传感器，分别设置在所述腔体内的多个位置，用于采集所述腔体内的温度。

3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述腔体还包括：

过滤材料，设置在所述进气孔中并且部分地覆盖所述进气孔内的空间，在所述腔体内外气压一致时阻挡气体自由流通；

单向阀，设置在所述出气孔中并且部分地覆盖所述进气孔内的空间，允许气体在所述抽风扇的作用下单方向地流出所述腔体。

4.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述腔体还包括设置在其中的测试治具架，所述测试治具架包括用于固定硬盘和均匀导热的安装固定架、数据接口、和表面空气循环扇。

5.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述密封测试盒控制器包括单片机，所述单片机连接到所述电热器，通过调整所述电热器的加热功率来将流入所述控温密封测试盒的气体加热到确定的已知温度；所述单片机连接到所述抽风扇，通过调整所述抽风扇的抽气功率将流入所述控温密封测试盒的气体控制在确定的已知速度；所述单片机连接到多个所述温度传感器以获取所述腔体中的所述温度变化数据。

6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述单片机通过串口连接到上位机以向所述上位机输出所述温度变化数据。

7.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述存储卡通过SAS线缆连接至所述腔体中的所述待测硬盘以向所述待测硬盘施加读写压力；所述存储卡还具有PCIE接口，并通过PCIE接口使用PCIE总线连接至上位机以接收所述上位机的读写指令。

8.一种服务器，其特征在于，包括：

连接并启用了待测硬盘的上位机；

控温密封测试盒，具有容纳所述待测硬盘用的腔体，并配置为在所述腔体内为所述待测硬盘提供确定的温度环境；

密封测试盒控制器，连接到所述控温密封测试盒以调控所述待测硬盘的所述温度环境，并且还在所述待测硬盘读写时采集所述腔体中的温度变化数据；

存储卡，连接到所述控温密封测试盒中的所述待测硬盘以向所述待测硬盘施加读写压力。

9.根据权利要求8所述的服务器，其特征在于，所述控温密封测试盒的所述腔体包括：

进气孔，设置在所述腔体的侧壁上；

出气孔，设置在所述腔体与所述进气孔相对的侧壁上；

电热器，设置在所述腔体内部靠近所述进气孔的位置，用于将流入所述控温密封测试盒的气体加热到确定的温度；

抽风扇，设置在所述腔体内部靠近所述出气孔的位置，用于将所述腔体中的气体通过所述出气孔排出；

多个温度传感器，分别设置在所述腔体内的多个位置，用于采集所述腔体内的温度。

10.根据权利要求9所述的服务器，其特征在于，所述腔体还包括：

过滤材料，设置在所述进气孔中并且部分地覆盖所述进气孔内的空间，在所述腔体内外气压一致时阻挡气体自由流通；

单向阀，设置在所述出气孔中并且部分地覆盖所述进气孔内的空间，允许气体在所述抽风扇的作用下单方向地流出所述腔体。